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实验室数字化HPGe伽玛谱仪
小巧的外观,强大的功能
与SMART-1、DIM技术良好匹配
低频噪声抑制器功能,显著改善分辨率
集合了ORTEC在数字化谱仪上的多项技术:自动*化、数字化自动极零、零死时间校正、内置虚拟示波器、弹道亏损校正和数字化门控基线恢复等
USB2.0接口,高速传播数据
有连接自动换样器的接口
zui大数据通过率 :
大于100,000 cps(低频抑制器LFR关闭);大于34,000 cps(低频抑制器LFR开启,根据成形时间常数而变)。
增益:
粗调:由计算机选定为1,2,4,8,16,或32;
细调:由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数:
上升时间:0.8至23 s可调,每步0.2s,由计算机选择;平顶:范围从0.3至2.4s,每步0.1s,由计算机选择。在自动*化功能下自动调整。
存储器分段(系统变换增益):
由计算机选择为16,384,8192,4096,2048,1024或512道。
非线性:
积分非线性:≤ 0.025%(谱的99.5%,用5.9KeV到1836KeV范围内的混合源测定);
微分非线性:≤ 1%(用BNC公司的脉冲产生器及斜波产生器测定)
数字化稳谱器:
由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数:
增益:<35ppm/C;零点:<3 ppm/C。
过载恢复:
在zui大增益时,能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内(用Insight虚拟示波器测定)
脉冲抗堆积:
自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节:
由计算机控制,可以手动或自动设定,远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD:
数字下域电平甄别器,以道为单位设置,LLD以下所有各道的计数被卡掉;数字上域电平甄别器, ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数字式门控基线恢复器:
可由计算机调节恢复频率(高、低或自动)。
数据存储器:
16,384道不丢失数据存储器,每道容量231-1(20亿)计数。
计数率显示:
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正:
按Gedcke-Hale 法活时校正,精度(随峰面积而变化): <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口:
240160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
尺寸与重量:
尺寸:24.9×20.0×8.1 cm。
重量:<1.0Kg。
工作条件: 5C到50C(包括LCD显示)。
低频抑制器(LFR):
LFR是一项新型的数字化滤波技术,主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号,从而使系统的分辨率得到较显著改善。
用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
SMART-1/DIM技术:
探测器与谱仪之间采用集束电缆连接,屏幕随时显示探测器晶体温度、高压状况、实时间、活时
间、计数率、增益和零点稳定性和探测器序列号等信息。
零死时间校正(ZDT):
在谱获取中,对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况,ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正,以实现无损失计数(Loss-free Counting)。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存,以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
弹道亏损校正/虚拟示波器:
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器时,
弹道亏损效应(Ballistic Deficit)常导致分辨率的变差甚至恶化(尤其在高能端),ORTEC的内置虚拟示波器可以用来设置脉冲成形的平顶(flap top)和斜度(tilt),比如对207%的HPGe探测器,在平顶时间设为0.8μs时,分辨率能恢复到接近正常水平。
与自动换样器匹配:
DSPEC-jr-2.0具有相应接口,与ORTEC自动换样器ASC2匹配。可用于遥控操作。
简单快捷的设置:
由GammaVision与Mastro-32软件都可以实现参数的快速设置。