一、简介

微电子产业遵循摩尔定律，随着芯片工艺和设计方法的进步，集成度越来越高，新的应用领域和市场需求，必然会导致超大规模的集成电路普遍使用。然而作为高科技的象征，大部分超大规模的芯片都是由国外厂家研发、生产，由于政治原因以及行业技术壁垒，使得国内设备生产厂家无法通过正常途径去购买芯片，但是在国内半导体市场，伪劣芯片在超额利润驱使下，正随着市场的繁荣而愈演愈烈，造假手段种类繁多，花样层出不穷并呈高科技化，如翻新国外电子垃圾、芯片代工厂的废品，打磨金属封装、壳体置换、温度等级修改、速度等级修改等；传统的依靠肉眼鉴别手段越来越力不从心，尽管国外有专用测试设备，基本都是针对IC生产领域，主要是面向单一品种批量测试应用，价格高昂，并且使用极其困难，国内虽然也有专业的芯片测试设备，但却对超大规模如DSP、FPGA、ARM、Powerpc、高速AD/DA等BGA封装器件无能为力。目前，国内电子设备厂商对采购的超大规模器件，质量基本上是由采购部门办事人员的人脉资源和渠道来保证。 如何构建超大规模芯片测试保障系统，有效保证器件质量，已成为国内整机厂家尤其是单位亟待解决的头等大事。

二、产品组成：

BK-ITEST芯片测试仪就是根据目前市场上伪劣愈演愈烈，避免广大用户及商家深受其害而研发的应用于流通环节质量控制的芯片测试设备，芯片测试仪利用灵活的可扩展性能的PXI总线与边界扫描技术相结合，利用边界扫描技术提高系统结构故障（引脚的呆滞型故障、短路故障、开路故障）的覆盖率和诊断能力，PXI总线的功能测试能力再加上边界扫描技术可以使系统的功能测试更加强大。产品主要应用于各类电子整机厂家、企业的质量检测部门进行入厂检验、质量评估和可靠性分析测试。测试仪由测试主机、芯片封装适配器以及相关的配件组成。

系统组成：

● PXI测试总线，机箱采用3U和6U混合结构，便于扩展。

● 高性能主频1.6Ghz 双核CPU，操作系统：WindowsXP。

● 供电单元：10路可编程电源，支持范围：0~±15V。

● 边界扫描控制卡、数字示波器卡、信号发生器卡。

● AD/DA卡、数字I/O卡、数字万用表。

● 矩阵开关、GPIB控制卡、接口适配器。

 

结构图：

三、系统特点

● 提供给客户的是一个通用平台，可根据实际需求实现量身定制。

● 通用总线插槽可任意配置测试选件，模块化设计，良好的扩展性，可以满足不同的测试需求。

● 数量众多的适配板以及各种不同封装的Socket。

● 内置芯片测试程序，一键式操作，使用简单。

● 测试结果显示PASS or FAIL，操作人员不需要专业知识。

● 测试参数丰富可调，可输出完整的测试报告。

● 测试元器件库快速扩充，有众多的技术人员进行专业的测试开发。

三、软件特点

● 测试界面简洁

● 可建立不同品牌各种器件模型库，并根据器件功能进行分类

● 测试快速，操作方便，过程可控，结果直观