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LED大功率全自动寿命老化测试系统

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2024-12-14东莞市
型号
东莞华科东尼仪器有限公司

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产品简介
产品名称:LED大功率全自动寿命老化测试系统产品型号:LM-80产品简介:可视窗口220*180(W*H)MM内部尺寸(标配)500*300*300(W*H*D)MM
详细信息

产品名称:LED大功率全自动寿命老化测试系统

产品型号:LM-80

产品简介:可视窗口 220*180(W*H)MM

内部尺寸(标配) 500*300*300(W*H*D)MM;
外部尺寸(标配) 1580*1520*500(H*W*D)MM;

半导体工作台的尺寸(标配) 每个单元:153*220(L*W)MM,设备输入电源功耗 AC38V三项供电设备自身的功耗子8KW(按标准配置)。使用环境要求 5°C ≤ 环境温度 ≤ 35 °C ,使用环境:安装在有空调控制和排风抽风装置,工作台散热方式 :风扇制冷。

系统参数包括温度,湿度,环境参数:
Ts 温度范围 常温 ~+150°C;
温度波动度 ±0.5°C;
温度均匀度 ±1.5°C箱体内气流 <0.3m/s;
测试容量参数:
温度偏差 ±0.3°C;

温度分辨率 0.01°C;
湿度范围 <65%RH;

独立工作间测试容量112W,测试功率为6*112W。
测试周期,测试时间 控制参数:
测试周期(小时) 6000小时,7000小时,8000小时,9000小时,10000小时以上;
测试间隔(小时) 1,10,100,1000,2000,3000,4000小时...
系统老化时间设定 设定开/关机的实时时间,格式为2012-07-12 15:02,老化时间分辨率 分钟,老化产品分组 6,总时间不确定度 ±0.5%。

温度实时采集,远程监测 系统参数:
系统稳定采集通道数 标准配置40通道YOKOGAWA MW100数据采集控制器(40以上选配)高速测量 最短测量周期为10ms,多测量周期 一个主单元可以混合3种测量周期可支持2GB的CF卡。*6(快闪存储卡),使用2GB的CF卡,在60ch/100ms时可连续采集数据约10天,60ch/1s时可连续采集约3个月,稳定采集时间分辨率 10ms-500ms,温度精度 ±0.1°C

电流源系统参数:

通道数 标配40个通道(选配可达1000个);
电流量程 0-1A,0-10A,0-20A以上;

通道间连接方式 通道间可以并联以增大电流,分辨率 1mA;
波纹 电压的纹波噪声不超过输出电压的2%;
老化电流精度 老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3%;
测试电流精度 光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5%

电压表系统参数:电压量程 0-150V(选配可达400V);分辨率 0.1V。

寿命测试板系统参数:
兼容性良好 可以依据不同尺寸的测试样品,在一定范围内调整寿命测试板,夹持样品;安装LED 一个寿命测试板可以安装多颗LED,方便快捷;拆卸要求 :寿命测试板可以安装于温度箱,也可以安装于光度测量系统中,以减小用户工作量,实现在线测试。测量装卸 在老化时安装多颗LED,在光度测量时不需要拆卸LED,可以对固定在寿命测试板上的LED直接进行光度精确测量。

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