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DR-HAST-350 晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱

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2024-12-04东莞市
型号
DR-HAST-350
参数
品牌:德瑞检测 适用领域:橡胶 温度范围:110~147℃ 温度波动度:1℃ 温度均匀度:1% 湿度范围:65~100% R.H 额定电压:380V 重量:358kg 外形尺寸:650*1200*940mm 产地:国产 加工定制:否
广东德瑞检测设备有限公司

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产品简介
晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱(High Accelerated Stress Test Chamber for Transistors)是专门设计用于对晶体管等半导体器件进行高压、高温、高湿环境下加速老化测试的设备。它可以模拟晶体管在恶劣工作环境下的长期使用情况,评估其稳定性、可靠性和寿命,帮助开发人员优化产品设计和提高器件的质量。
详细信息


晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱

晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱

晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱(High Accelerated Stress Test Chamber for Transistors)是专门设计用于对晶体管等半导体器件进行高压、高温、高湿环境下加速老化测试的设备。它可以模拟晶体管在恶劣工作环境下的长期使用情况,评估其稳定性、可靠性和寿命,帮助开发人员优化产品设计和提高器件的质量。

晶体管 HAST 高压加速老化寿命试验箱的主要功能与特点

  1. 高温、高湿和高压环境模拟

    • 高温:该设备能够提供高温环境,通常范围为 +125℃ 至 +200℃,模拟晶体管在高温环境下的工作条件。

    • 高湿:设备内湿度可调节到 100%相对湿度,用于模拟湿气对晶体管性能的影响,尤其是在潮湿环境下可能导致的电气性能退化。

    • 高压:HAST测试中晶体管会在相对较高的电压下进行测试,常见的测试电压可达到晶体管额定电压的 1.5-2倍,通过这一高压环境加速晶体管的老化过程。

  2. 加速老化过程

    • 通过高温、高湿和高压的结合,HAST试验箱可以迅速加速晶体管的老化,通常可以在较短的时间内模拟出晶体管在恶劣环境下长时间工作的衰退过程。

    • 加速老化有助于揭示晶体管的潜在故障模式,如温度升高导致的封装老化、热失效、漏电流增大等问题。

  3. 自动化控制与监控

    • 现代的HAST试验箱配备了精确的温湿度控制系统、压力控制系统以及温度、湿度、压力的实时监控功能。通过触摸屏或计算机界面,测试人员可以实时设置、监控和记录实验数据。

    • 系统会自动记录测试过程中各项参数(如温度、湿度、压力、电流、漏电流等)的变化,确保数据的准确性和可追溯性。

  4. 失效分析与可靠性评估

    • HAST试验有助于分析晶体管的失效模式,尤其是在恶劣环境下出现的故障(如短路、开路、漏电流增大等)。通过试验得到的数据,工程师可以判断晶体管的可靠性,预估其实际使用中的寿命。

  5. 加速测试数据

    • HAST试验不仅能加速老化过程,还能够通过统计分析得出晶体管的预期寿命。这有助于了解器件在不同条件下的性能退化情况,尤其是在高压高温条件下的应力表现。

晶体管 HAST 测试的应用

晶体管广泛应用于电子电路、通信设备、汽车电子、消费电子以及军工领域等。其稳定性和可靠性对于产品的性能至关重要,特别是在高压、高温、高湿等恶劣环境中使用时,HAST测试可以帮助评估晶体管的长期可靠性。常见的应用领域包括:

  1. 消费电子:智能手机、计算机、电视等电子产品中大量使用晶体管。通过HAST测试可以确保晶体管在长期使用中的稳定性,避免因器件故障导致的产品故障或安全问题。

  2. 汽车电子:汽车中使用的电子元件对可靠性要求非常高,尤其是在高温、高湿、振动等环境下。HAST试验可以帮助评估晶体管在汽车电子系统中的表现,确保其长时间稳定工作。

  3. 航空航天和军事:这些领域中的电子设备需要在恶劣温度和湿度下工作。通过HAST测试可以确保晶体管能够承受长时间的压力,满足高可靠性的要求。

  4. 通信设备:通信系统中的晶体管需要在高温、高湿、长期负荷的条件下工作。HAST测试能够模拟这些工作环境,确保通信设备的稳定性。

晶体管 HAST 测试中的常见问题与影响

  1. 漏电流增加

    • 在HAST测试中,晶体管的漏电流可能会随温度和湿度的增加而增大,特别是在高温、高湿、高压环境下。测试过程中,漏电流的变化可以反映晶体管的电气性能衰退。

  2. 热失效

    • 晶体管在高温环境下工作时,可能会出现因过热导致的损坏,如热失效、材料老化或封装破裂。HAST试验可以帮助检测晶体管在高温环境下的热稳定性。

  3. 封装老化

    • 晶体管的封装可能会因高温高湿环境下的应力而老化。封装材料的劣化可能会导致漏电流增大、封装开裂、导电性能下降等问题。

  4. 晶体管的电气性能退化

    • 长时间的高温、高湿、高压环境测试,可能会导致晶体管的增益(β)下降,影响其放大功能,或者发生失效。

HAST 测试的标准与规范

晶体管的HAST测试通常需要遵循一定的行业标准和规范,以确保测试的有效性和可靠性。常见的标准包括:

  • JEDEC JESD22-A110:这是电子组件的加速寿命测试标准,涉及到温湿度的加速测试,包括晶体管等半导体器件。

  • AEC-Q101:这是汽车电子元件的质量标准,包含了对半导体器件(包括晶体管)进行加速老化的相关要求。

  • IEC 60749:这是国际电工委员会(IEC)制定的半导体元件的试验方法标准,包含了对晶体管的湿热、热冲击等测试。

总结

晶体管 hast高压加速老化寿命试验箱是对晶体管及其他半导体器件进行可靠性评估的重要工具。通过模拟高温、高湿、高压等恶劣环境,能够加速晶体管的老化过程,帮助检测其失效模式和性能退化。HAST测试对于保证晶体管在高压、恶劣环境下的稳定工作和长寿命具有重要意义,广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天、通信等领域。


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产品参数

品牌 德瑞检测
适用领域 橡胶
温度范围 110~147℃
温度波动度 1℃
温度均匀度 1%
湿度范围 65~100% R.H
额定电压 380V
重量 358kg
外形尺寸 650*1200*940mm
产地 国产
加工定制
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