借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。

Epsilon 4 任意位置

由于较低的基础设施要求，可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行，从而降低氦气或真空维护的成本。

超越分析的价值

能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 

将 Omnian 用于无标分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。

支持各类样品

Epsilon 4 可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上，对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析，涵盖从 99% 到百万分之一以下的浓度范围。
Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案，已在许多行业和应用领域中得到广泛应用，甚至在轻元素分析非常重要的环境中，包括：水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、
制药、保健产品、环保、食品和化妆品。

特点

灵活的配置

Epsilon 4 是高度灵活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能，并且处于更加具有挑战性的环境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以对碳、氮和氧进行分析。

新发展

Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。

迅速、敏感

利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。
探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。

降低氦气消耗量

Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。