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瑞士梅特勒XPE分析天平
具体成交价以合同协议为准
2024-06-23重庆
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产品简介
性能
XPE分析天平产品简介的性能XPE分析天平提供的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规
详细信息
XPE 分析天平 产品简介
的性能
XPE 分析天平提供的分析称量性能，并满足至 高的安全性、效率且易于合规。XPE 分析天平重复性 低，因此提供更小的称量值。
质量管理特征，例如创新的状态指示灯 (StatusLight) 和获得的静电检测 (StaticDetect) 技术，可免除 您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果。
凭借各种选件和多个连接选项，XPE 天平可满足您日 益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量。 瑞士设计与制造，的品质值得您信赖。
XPE 分析天平 产品特性
| 精确的结果 | 高分辨率技术 采用灵敏度测试的内部校正 内部温度控制 静电检测 (StaticDetect™) |
| 高效操作 | 彩色触摸屏 采用 11 种语言的用户界面 易巧称量件 (ErgoClip) 用于直接加样 易于清洁 悬挂式网格秤盘 (SmartGrid) 动态图形显示 (SmartTrac) 指导的加样至目标 自动防风罩 红外感应器 (SmartSens)，实现用于无 需用手接触的操作 |
| 称量保证 | 图形化水平控制系统和分级别警告 小称量值 (MinWeigh) 保护 测试管理器 FACT、GWP 和管理员记录 与用户及密码保护 状态指示灯 (StatusLight) |
| 无缝过程 | Quantos 更新就绪 LabX 就绪 射频识别 (RFID) 通信就绪 一体化去静电装置就绪 内置的 RS232 接口和第 2 个接口选 件插槽 |
性能
StaticDetect™ 静电检测和静电消除技术，加上的 SmartGrid 网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。 创新型 StatusLight™ 天平就绪指示灯以及利用 TestManager™ 测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。
轻松满足法规
StatusLight 状态指示灯使用颜色直观地显示天平的状态：绿色表示准备就绪，黄色表示警告，红色表示错误。 StatusLight 状态指示灯清晰地显示天平是否已准备好开始称量任务。
状态指示灯
状态指示灯
状态指示灯清晰地显示天平是否已准备好开始称量任务。 绿色表示天平准备运行，黄色表示天平应通过 TestManager 连接至日常测试，红色表示应对天平失去平衡等错误立即采取纠正措施。
使用天平触摸屏，可在 Test-Manager™ 嵌入式软件中进行 SOP 测试。 无论何时进行测试，都会在屏幕上显示消息，您只需遵循分步式指导信息操作即可。
去静电解决方案可确保获得准确的称量结果
| StaticDetect 新型传感器技术可检测样品和/或其容器上的静电荷，以获得高的过程安全性。 如果超过用户定义的限值，则会检测到称量错误，并发出警告。 | 去静电装置 新型紧凑式去静电组件可用于慢慢地生成带电离子，从而消除静电荷，而不会导致称量室内干扰。稳定的离子流防止样品交叉污染，并消除用户处理有毒物质时的威胁。 提供内外部防静电选件。 | ErgoClips |
结果可靠
超越系列分析天平将获得的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得佳的称量结果！
佳称量结果 — 快速、可靠
除了称量舒适度外，获得的测量技术还在发挥着幕后作用，为您提供高的分辨率、为快速和可靠的结果以及低的小称量值（仅 14mg）！
XPE 分析天平采用的设计，将称重传感器和电子元件安装在天平的背部。 您可获得的利益：不受散热影响且易于清洁，因此可获得更好的称量性能。 获得的设计具备以下关键特征：
● SmartGrid 技术能够以快速、清洁的方式完成称量任务
● 内部温度控制 (ITC) 装置无需单独或外部电子元件即可确保获得小称量值。
● proFACT 高级版本确保准确性和温度稳定性并符合内部测试规定
良好的称量规范™
新型 XSE 和 XPE 分析天平依照 GWP® 研发而成。 梅特勒-托利多开发出 GWP® (Good Weighing Practice™)，作为安全选择、校准和操作称重设备的标准化科学方法。 GWP® 提供的可再现性称重结果书面凭证符合当前所有实验室和制造业的质量标准。 关注稳定的过程、一致的产品质量、精益制造 或遵守法规的用户可使用 GWP® 作为选择和校准其称重设备的基准。
无需接触天平的操作
超越系列分析天平采用人体工程学设计，旨在尽量使您的生活变得轻松。 SmartSens™ 红外感应器可使您挥一下手即可进行操作，使称量任务更加轻松，避免交叉污染问题（例如：打开/关闭防风罩门）。
采用人体工程学设计，旨在尽量使您的生活变得轻松。
易于清洁
凭借的网格秤盘和可在数秒钟内拆卸的防风罩，始终确保称量区域清洁、安全。
基于 RFID 的操作 — 滴定仪
现代化移液器有内置的 RFID 芯片，可存储大量信息：移液器 ID、移液器容量、后校准日期和下一校准日期等等。 利用新的集成 RFID 阅读器，您可以在几秒钟内进行检查，并在天平终端上查看报告全文 — 快速、无误。
基于 RFID 的操作 — 移液器
创新的 EasyScan™ 选件可检查带有 RFID 标记的移液器上的测试和校准日期。
内置的天平应用可读取带有 RFID 标记的移液器信息，并指导您完成整个移液器测试过程（如果需要）。
如需确认可重复性，例如用于对试剂要求很高的化验或用户培训及熟悉操作，则您可获得独立的测试过程。
要获得准确的结果，在数秒钟内重设天平并使用梅特勒-托利多提供的防蒸发阱。
提供智能标签（SmartTag）胶粘 RFID，使您的单个移液器准备好进行 RFID 数据处理。
基于 RFID 的操作 — 滴定
在天平上安全地输入滴定样品信息，并将其轻松地通过滴定烧杯和 SmartSample RFID 标签传输至滴定仪。
基于 RFID 的操作 — 滴定
使用新的 SmartSample™ 配件可通过专门的滴定流程实现梅特勒-托利多实验室设备之间的通信。
与梅特勒-托利多的新型 InMotion™ 自动进样器配合使用，可避免抄写和样品排序错误，并通过使用新型 SmartSample 天平配件和内置的 XPE 或 XSE 天平工作流程提高效率。
在 XPE 或 XSE 分析天平上输入样品信息即可借由技术避免所有的抄录和样品排序错误，从而识别和称量滴定样品！
商品参数
XPE 分析天平 技术参数
| 极限值 | XPE105 | XPE205 | XPE205DR | XPE204 | XPE504 |
| 大称量值 | 120 g | 220 g | 220 g | 220 g | 520 g |
| 可读性 | 0.01 mg | 0.01 mg
| 0.1 mg
| 0.1mg | 0.1mg |
| 可读性，精细量程 | - | - | 0.01 mg
| - | - |
| 皮重范围（从 … 至） | 0 … 120 g | 0 … 220 g | 0 … 220 g | 0…220g | 0 … 520 g |
| 大称量值，精细量程 | - | - | 81 g | - | - |
| 重复性 (sd) (加载处) | 0.03 mg (100 g) | 0.03 mg (200 g) | 0.06 mg (200 g) | 0.07 mg (200 g) | 0.12 mg (500 g) |
| 重复性 (sd)（5% 加载） | 0.015 mg | 0.015 mg | 0.015 mg | 0.05 mg | 0.08 mg (20 g) |
| 线性误差 | 0.10 mg | 0.10 mg | 0.15 mg | 0.2 mg | 0.4 mg |
| 偏载误差（加载处） | 0.12 mg (50 g) | 0.2 mg (100 g) | 0.25 mg (100 g) | 0.25 mg (100 g) | 0.4 mg (200 g) |
| 灵敏度漂移（校验砝码） | 0.3 mg (100 g) | 0.4 mg (200 g) | 0.5 mg (200 g) | 0.6 mg (200 g) | 1.5 mg (500 g) |
| 灵敏度温度漂移 | 0.0001%/°C | 0.0001%/°C | 0.0001%/°C | 0.0001%/°C | 0.0001%/°C |
| 灵敏度稳定性 | 0.0001%/a | 0.0001%/a | 0.0001%/a | 0.0001%/a | 0.0001%/a |
| 典型值 |
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|
|
| 重复性 (sd)（5% 加载） | 0.007 mg | 0.007 mg | 0.007 mg | 0.04 mg | 0.04 mg(20 g) |
| 线性误差 | 0.065 mg | 0.065 mg | 0.1 mg | 0.13mg | 0.32 mg |
| 偏载误差（加载处） | 0.1 mg (50 g) | 0.1 mg (100 g) | 0.1 mg (100 g) | 0.12 mg (100 g) | 0.2 mg (200 g) |
| 灵敏度漂移（校验砝码） | 0.15 mg (100 g) | 0.2 mg (200 g) | 0.32 mg (200 g) | 0.4 mg (200 g) | 0.6 mg (500 g) |
| 小称量值（5% 加载，k=2，U=0.1%） | 14 mg | 14 mg | 14 mg | 80 mg | 80 mg |
| 小称量值（5% 加载，k=2，U=1%） | 1.4 mg | 1.4 mg | 1.4 mg | 8 mg | 8 mg |
| 稳定时间 | 1.5 s | 2.5 s | 1.5 s | 1.5 s | 1.5 s |
| 稳定时间精细量程 | – | – | 2.5 s | – | – |
资料下载
点击下载XPE分析天平 产品说明厂家介绍
☆ 梅特勒-托利多仪器在研发、科研和质量控制实验室普遍应用，其中很多仪器应用于制药、化学、食品和化妆品行业。我们是市场企业，拥有实验室内常用的三种仪器——天平、移液器和 pH 计，同时我们在自动化化学领域一直居于的地位。
☆ 我们的工业解决方案同样在为众多实验室客户的生产工艺不同环节提供服务，其涵盖的范围从原料进货检验、在线过程控制与终端包装控制，到物流与运输。这些解决方案日益与客户的 IT 环境全面集成，帮助实现工作流的自动化。
