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参考价:

起订量:

  • 1000
  • ≥1台
SPA6100 分立器件检测仪iv+cv测试仪

具体成交价以合同协议为准

2024-05-21武汉市
型号
SPA6100
参数
品牌:普赛斯仪表 产地:国产 加工定制:否 尺寸:580mm长*620mm宽*680mm高 输入电源:220V 50/60Hz 测试范围:30μV-1200V;1pA-100A
武汉普赛斯仪表有限公司

初级会员2生产厂家

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产品简介
SPA-6100分立器件检测仪iv+cv测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。
详细信息

分立器件检测仪iv+cv测试仪

分立器件检测仪iv+cv测试仪特点:


30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力;


测量精度高,全量程下可达0.03%精度;


内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;


自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;


在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;

提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;


免费提供上位机软件及SCPI指令集;
分立器件检测仪iv+cv测试仪


典型应用:


纳米、柔性等材料特性分析;


二极管;


MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;


第三代半导体材料/器件;


有机OFET器件;


LED、OLED、光电器件;


半导体电阻式等传感器;


EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;


电阻率系数和霍尔效应测量;


太阳能电池;


非易失性存储设备;


失效分析;


分立器件检测仪iv+cv测试仪订货信息

分立器件检测仪iv+cv测试仪


普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对普赛斯功率半导体器件静态参数测试方案和国产化高精度源表感兴趣,欢迎随时联系我们!

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详询客服 : 0571-87858618

产品参数

品牌 普赛斯仪表
产地 国产
加工定制
尺寸 580mm长*620mm宽*680mm高
输入电源 220V 50/60Hz
测试范围 30μV-1200V;1pA-100A
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