免费会员 其他
参考价：
-
- 面议
BeamOn X光斑光束分析仪
具体成交价以合同协议为准
2024-02-25
- 型号
该企业相似产品
产品简介
BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪，是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备，具有良好的成本效益。
详细信息
高分辨率BeamOn X光斑测量仪，7.4 mm x 5 mm靶面，像素尺寸2.4 um
BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪，是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备，具有良好的成本效益。另外，该设备属于CMOS光斑分析仪，采用快门技术，带有1/1.8英寸的检测区域，配套的软件界面友好，使用方便，能实时检测和显示光束轮廓、光斑椭圆度情况。
BeamOn X光斑测量仪的特点：
-测量光斑尺寸低至30微米
-CMOS成像
-光斑椭圆度
-准确质心定位，测量光束轮廓和能量分布
-高帧率——50 Hz
-光谱范围——350-1310 nm
BeamOn X光斑分析仪外观图片
BeamOn X CMOS光斑分析仪可检测激光规格：
| 规格 | 参数 |
| 光束类型 | 连续光或脉冲光 |
| 光束尺寸 | ⌀30 um-⌀4.5 mm |
| 光谱响应范围 | 350-1310 nm |
BeamOn X光斑检测仪产品规格：
| 型号 | BeamOn X |
| 传感器类型 | CMOS 尺寸1/1.8英寸 |
| 传感器探测面积（mm） | 7.4（长）x 5（高） |
| 分辨率（像素数量 长 x 高） | 3096 x 2080 |
| 像素尺寸 | 2.4 um x 2.4 um |
| 像素位深 | 10/14 bits |
| 光束宽度分辨率 | 1微米或者更好 |
| 损伤阈值 | 带衰减片50 W/cm2 |
| 灵敏度 | 激光波长633 nm时，0.5 nW/cm2 激光波长1310 nm时，15000 nW/cm2（15 uW/cm2） |
| 饱和度 | 不带衰减片1 W/cm2 |
| 产品尺寸（长 x 宽 x 高）单位mm | ⌀63 mm x 51 mm宽 |
| 重量（典型） | 带光缆300 g |
| 机械接口 | Post mounting：8-32UNC，6 mm宽 |
| 运行温度 | 0 °-35 ℃ |
| 定位分辨率 | 1 um |
| 光束宽度精确度 | ±2% |
| 动态范围 | 60 dB |
| 曝光速度（可调节） | 32 us-2 s |
| 帧率 | 50 fps - 高达450 fps @fast mode（8 bit + ROI） |
| 功率测试 | 在选定的点上进行用户预校准 |
| 去除背景噪声 | 自动 |
| Trigger | 内部软件 |
| 功率需求 | ~2 W（通过USB3.0接口） |
| （计算机）硬件要求 | CPU i5 1.6 GHz，4 GB内存 分辨率1366 x 766 |
| 接口 | USB3.0，Windows 7/8/10（32&64 bit） |
BeamOn X光斑测量仪能测量光束直径30 um - 4.5 mm的连续光或脉冲光，定位分辨率高达1 um。光束经由CMOS光斑分析仪系统成像后，软件界面将显示光束轮廓和能量分布，同时还提供质心定位、光斑椭圆度、光束尺寸数值。质心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析仪检测过程中得出，能量分布通过颜色变化情况和能量曲线来辨别。在一定的能量强度的范围内，激光光斑分析仪系统还能测量出光斑椭圆度、长轴、短轴数值。为了保障BeamOn X光斑光束分析仪不因激光功率过高而导致设备故障，激光的功率密度应远低于损伤阈值。
订购信息：
Model BEAMON-X-E-FW：350-1310 nm，带衰减片转轮，转轮内含3片衰减片（NG4，NG9，NG10）
Model BEAMON-X-E：350-1310 nm，不带衰减片转轮
一套完整的激光光斑分析仪系统包括一台BeamOn X光斑分析仪（含连接线缆）、一根支柱、系统软件（存于CD/U盘）、一个小提箱。
Model BEAMON-X-E-FW光斑检测仪尺寸图
Model BEAMON-X-E光斑检测仪尺寸图
相关技术文章
