雷尼绍是一家跨国公司，拥有遍布的科学家和工程师网络，可随时为您提供 产品、技术和应用方面的专业支持。

★★★，值得信赖 

inVia由一台研究级显微镜和一台高性能拉曼光谱仪耦合而成。它操作简单但性能出众 — 高信号传输效率与高 光谱分辨率和稳定性相结合 — 即使应用于挑战性的测量，也能给出可靠的分析结果。 inVia高效的光学设计可产生高质量的拉曼数据，即使分析材料的微痕量也不例外。如果您希望轻松可靠地获得 信息丰富且细节化的化学图像和关于离散点的高度特定的数据，那么inVia系统是您的理想选择。 

★★★的灵活性和可升级性

inVia极其灵活，可升级、修改和定制，不影响性能。可配用附件、激光器、光纤探头或将拉曼与其他技术联 用；无论您选择的是哪种inVia配置，您都将拥有一台市场上灵活性和灵敏度的拉曼系统。如果我们的标准产品 不能准确贴合您的需求，我们的“非标准产品团队”可以开发定制解决方案，以满足您的要求。 

★★★、性能可靠、使用寿命长 

inVia共焦显微拉曼光谱仪是运用雷尼绍在精密机械制造和创新工程方面的丰富经验设计而成的。经过20多年的 开发和优化，inVia凭借其优异的品质和的性能，已成为市场上最可信赖的拉曼仪器之一。选择雷尼绍作为您的 拉曼合作伙伴是一项明智的投资，您的inVia将“经久不衰”。 作为专业供应商，雷尼绍将为您的拉曼系统提供终身支持与服务；仪器诊断、维修和调节可以远程实现或者由 我们服务团队的人员现场执行。 

没有其他显微拉曼光谱仪制造商能够在单一系统中提供同样水平的灵活性和灵敏度。

• 优异性能

  inVia性能出众，无论观察何种样品，它均可在最短的时间内给出 质的数据。 

• 灵敏 

  即使最弱的拉曼散射信号也能观察到并获得薄膜与单层（材料）的光 谱。 

• 功能强大 

  使用inVia进行拉曼和光致发光两种测量，以获取材料在电子和振动结 构方面的信息，或与其他分析技术联用获得更有效的综合解决方案。 

• 自动 

  inVia全自动化功能可为您操纵激光波长、滤光片和光栅的变化。 inVia还可保持聚焦状态、执行系统准直和校准，这样您就可以专注于 获取实验结果，而不必在调整拉曼系统上耗费精力。 

• 灵活

  inVia是可配置和升级的，极为灵活。无论是现在还是将来，您都 可以在不同的实验条件下分析泛的样品种类。 

• 可重复的结果 

  依靠inVia，产生您可以信赖的结果。有了inVia出众的性能，您可以 相信：不管是多么具有挑战性的实验，它每次都能给出可重复的结果。 

• 易于使用

  inVia的自动化功能和（限制环境光的）可选样品遮光罩极大提高了操 作效率，即使是在有多个使用者的繁忙的实验室内。 

• 全套成像技术 

  inVia拥有一套综合的成像和整体成像技术。可用这些技术来生成信息 丰富且细节化的2D面积和3D体积拉曼图像。 

• 分析不规则样品 

  inVia Qontor的实时自动聚焦追踪技术能够分析凸凹不平、弯曲或粗 糙的样品表面，在白光视频观察和拉曼采集模式下样品均能保持聚焦状态。

• 高光学效率 ：快速且灵敏的分析。雷尼绍工程师运用他们在精密机 械制造和创新设计方面的丰富经验， 将inVia打造成一台的拉曼仪 器。他们选择一种同轴消像散光谱仪， 该光谱仪具有高光学效率、优异的杂 散光去除能力和的灵敏度。 有了inVia，您可以研究非常微弱的拉 曼信号，甚至可以快速分析材料的微 痕量。

• 高光谱分辨率 ：分析各种样品 。配置inVia来分辨较窄的光谱特 征结构，这样您就可以在互相靠近的 拉曼谱带之间进行区分，并辨别非常 相似的材料，比如复杂的混合物。

• 高光谱稳定性 ：获得一致、可靠的数据 。inVia配有坚固、轻巧的底板，以 及精密的动态底座，可确保 的仪器稳定性，使您能够监测拉曼谱 带位置的微小位移。
  

• 多种激光和光谱范围配置 ：性能丝毫不受影响 。inVia的工作范围可扩展为从深 紫外到远红外。选择的激光、 探测器、滤光片和光栅组合，以在 尽可能短的时间内获得质的拉 曼数据。

• 无人为干预的宽范围光谱 ：拉曼和光致发光测量 。使用雷尼绍的SynchroScan™ 连续扫描采集光谱技术，实现光谱 覆盖范围的扩展。这样就能够对跨 越很宽光谱范围的光进行采集， 无需人为干预且不影响分辨率。例 如，inVia能够在横跨整个可见/近红 外区间上，以一次性的连续采谱方 式得到一张高分辨光谱。

• 低波数性能 ：靠近激光线进行分析。 inVia支持多种瑞利滤光片，包 括那些您可以用来高效并轻松研究 低波数拉曼特征结构的滤光片。

• 高灵敏探测器 ：边带截止技术。 inVia显微拉曼光谱仪使用雷尼绍 自己的超低噪声、超高灵敏CCD相 机，这样您可以在尽可能短的时间内获得的实验结果。如果您希望添 加更多探测器，则可为inVia配置多达 4个探测器，如电子倍增 (EM) 探测器 和InGaAs阵列。 

• 真正的共焦性能 ：精确地按照您的需要配置。达到尽可能高的空间分辨率， 仅受固有光衍射极限限制。inVia显微拉曼光谱仪的EasyConfocal光学系统提供真正的高空间分辨的共焦能力，不影响易用性、稳定性以及光学效率。从亚微米高分辨测量到块状样品的大尺度平均测量，都可实现轻松切换。

• 高性能显微镜 ：徕卡显微镜 — 优质、高效、可靠 。徕卡显微系统的研究级显微镜 是inVia的标配，可装备高数值孔径 的物镜镜头，实现高空间分辨率。

• 扩大样品观察范围 ：清楚地看见您的样品 。双筒目镜，带有两个工作目镜，不仅可以直接观察 样品，还提供一个开阔的视场。您看见的区域要比原来 大得多 — 并且当您移动样品时可获得即时反馈。 当inVia配备样品台时，比如雷尼绍的高速光栅尺 反馈平台 (MS30)，它生成的样品图像的覆盖区域要比 显微镜视场大得多。您可以使用该图像轻松为随后的数 据采集确定位置。 

• 多激光器 ：无论您的样品种类是什么，均可获得质的数据 。inVia具有各种直接耦合激光激发选项 — 从近红外到 深紫外，确保您能够根据需要调整仪器。例如，您可能希望 减小荧光或引起共振。inVia通常可配备两或三个激光器 作为标配，但也可根据您的需要进行配置以使用更多的激 光器。优化的激光传输路径确保您能够从每个激光器获得 结果。

• 生成高质量拉曼图像 ：清晰的化学图像 。inVia提供全面成像技术，使您能够从点、线、面， 甚至体积采集数据。StreamLine™、StreamHR™和 True Raman Imaging™是雷尼绍无二的成像技 术，可生成高质量拉曼图像。

• 全自动化 ：inVia易于使用和维护 。inVia的自动化省去了手动介入的需要。当您更换 关键部件时（例如滤光片、激光器和光栅），inVia将 自动重新配置其光学元件并优化其准直。这使得分析更加有效，非常适合有多个使用者的繁忙的实验室。

• 实时保持聚焦状态 ：样品表面/界面追踪技术 。采用LiveTrack™自动聚焦追踪技术实时采集具有较大 高度变量的样品的准确、可重复的光谱和形貌信息。无需 预扫描就能够对凸凹不平、弯曲、粗糙的表面生成令人惊奇 的三维图像。

• 采样的灵活性 ：无论您的实验需要什么，都能接近并控制您的样品 。inVia可在单台拉曼系统上提供各种配置和附件。 • 各种物镜镜头和环境样品池可确保您在不同的环境条 件下分析样品。 • 对于太大而无法放置在标准显微镜下的样品，灵活的 采样臂使您可以将物镜精确定位在所需位置。 • inVia同样支持研究级正置、倒置和开放框架显微 镜，以及用于长距离远程分析的光纤探头。

• 功能强大的软件 ：采集、分析和显示高质量拉曼数据 。雷尼绍的WiRE (Windows based Raman Environment) 软件是专门为研究拉曼光谱而设计的。它可控制光谱的采 集并提供全套数据处理和分析功能。

• 通过联用增强能力 ：配用AFM、SEM、CSLM... 。将拉曼的能力与其他分析技术结合，例如扫描探针显 微镜（AFM和TERS）、扫描电子显微镜 (SEM)，或者共焦 激光扫描显微镜 (CLSM)。inVia灵活的设计也使其能够与 众多其他专业技术联用，包括同步辐射加速器上的X射线 衍射系统以及光束线上的中子衍射系统。

• 安全性 ：使用安全，不影响简单性和易用性 。inVia配备齐全，包括激光安全互锁装置和可选样品遮 光罩。提供3B类、4类或1类激光安全选项，具体取决于配 置和所用激光器。

• 拉曼偏振选件 ：分析样品的对称性和取向性 。可选的偏振附件可以控制激光和光谱仪的偏振方向 （偏振片/分析仪）。采用这一附件，您可以分析得到 晶体的取向（例如微晶），也可以分析得到液体样品的 退偏比。

• 补充成像选项 ：生成补充图像，实现深入了解 。inVia还可将光电流数据和瑞利散射光生成图像。这 些图像可指导和补充拉曼测量，帮助您快速完成样品检 视。光电流成像可提供半导体材料的电子信息。瑞利成像 非常适合在进行全面拉曼分析之前定位颗粒 — 例如微塑料颗粒和石墨烯薄片。