免费会员 经销商
参考价：
-
- 面议
CMI760 线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760
具体成交价以合同协议为准
2023-11-09深圳市
- 型号
- CMI760
该企业相似产品
德国MN水处理系列产品 英国牛津仪器Oxford测厚仪 美国LEE测厚仪 日本共立kyoritsu测试包 日本爱宕浓度仪、折射仪、折光仪 柯尼卡美能达色差仪 美国爱色丽颜色检测仪 方源仪器粘度计、试验机、各类检测仪器 美国JENCOPH计、溶解仪、各类离子测试仪 Pantone色卡
产品简介
台式专用铜厚测试仪CMI760测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体，同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计
详细信息
台式专用铜厚测试仪CMI760测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体，同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计。台式专用铜厚测试仪CMI760还具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。
线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760
台式专用铜厚测试仪CMI760测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体，同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计。台式专用铜厚测试仪CMI760还具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。
线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760技术参数：
SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm)
TRP-M（微孔）探头测试技术参数：
最小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
可测试板厚：175mil （4445 μm）
最小可测试板厚：板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils(76.2μm)
准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
精确度：不建议对同一孔进行多次测试
分辨率：0.01 mil(0.1 μm)
相关测厚仪：
膜厚测量仪CMI250金属表面膜厚测试
电镀膜厚仪CMI250膜厚测试仪原理
测试涂镀层膜厚仪Oxford CMI250测厚仪
喷漆膜厚仪漆膜测厚仪CMI250
膜厚仪牛津测厚仪CMI250
检测表面膜厚测量仪CMI233膜厚仪测厚仪
膜厚测试仪膜厚仪测厚仪CMI233
深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪
专业测试各种涂镀层膜厚计膜厚仪测厚仪CMI233
单用膜厚仪镀层测厚仪CMI243
新型牛津镀层膜厚仪CMI243
CMI243高精度媲美X射线测厚仪膜厚仪
深圳方源台式CMI760线路板PCB行业膜厚仪测厚仪
上海供应PCB行业专用面铜孔铜测厚仪膜厚仪
CMI563面铜厚度测量仪膜厚仪
牛津仪器孔内镀铜测厚仪膜厚仪
ETP探头孔铜膜厚仪CMI511价格
深圳上海供应CMI511孔铜测厚仪膜厚仪
Oxford便携式CMI165面铜测厚仪膜厚仪
原装英国牛津膜厚仪CMI165面铜测厚仪
方源仪器批发供应面铜膜厚仪
深圳方源铜箔测厚仪膜厚仪
上海CMI95M铜箔测厚仪膜厚仪
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
便携式铜箔膜厚仪CMI95M
中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼 地址：上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室
电话： 电话：
传真： : fyyq@ 传真： : fyyq@
线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760
台式专用铜厚测试仪CMI760测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体，同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计。台式专用铜厚测试仪CMI760还具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。
线路板孔铜面铜膜厚仪测厚仪CMI760技术参数：
SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm)
TRP-M（微孔）探头测试技术参数：
最小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
可测试板厚：175mil （4445 μm）
最小可测试板厚：板厚的最小值必须比所对应测试线路板的最小孔孔径值高3mils(76.2μm)
准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
精确度：不建议对同一孔进行多次测试
分辨率：0.01 mil(0.1 μm)
相关测厚仪：
膜厚测量仪CMI250金属表面膜厚测试
电镀膜厚仪CMI250膜厚测试仪原理
测试涂镀层膜厚仪Oxford CMI250测厚仪
喷漆膜厚仪漆膜测厚仪CMI250
膜厚仪牛津测厚仪CMI250
检测表面膜厚测量仪CMI233膜厚仪测厚仪
膜厚测试仪膜厚仪测厚仪CMI233
深圳方源仪器Oxford CMI233膜厚仪测厚仪
专业测试各种涂镀层膜厚计膜厚仪测厚仪CMI233
单用膜厚仪镀层测厚仪CMI243
新型牛津镀层膜厚仪CMI243
CMI243高精度媲美X射线测厚仪膜厚仪
深圳方源台式CMI760线路板PCB行业膜厚仪测厚仪
上海供应PCB行业专用面铜孔铜测厚仪膜厚仪
CMI563面铜厚度测量仪膜厚仪
牛津仪器孔内镀铜测厚仪膜厚仪
ETP探头孔铜膜厚仪CMI511价格
深圳上海供应CMI511孔铜测厚仪膜厚仪
Oxford便携式CMI165面铜测厚仪膜厚仪
原装英国牛津膜厚仪CMI165面铜测厚仪
方源仪器批发供应面铜膜厚仪
深圳方源铜箔测厚仪膜厚仪
上海CMI95M铜箔测厚仪膜厚仪
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
便携式铜箔膜厚仪CMI95M
中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼 地址：上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室
电话： 电话：
传真： : fyyq@ 传真： : fyyq@
相关技术文章
