DIL 402 Expedis Classic - 重新定义热膨胀仪
耐驰公司新款热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic 集成了热膨胀测量领域的技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于*的 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。每一纳米均纳入计算
量程与分辨率的新的
对于传统的热膨胀仪，测试量程与分辨率这两个参数很难两全：高分辨率只能在很小的量程中实现；如果要得到较大量程，只能牺牲一定的分辨率。

新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾，能够同时提供高的分辨率、的线性度与宽广的量程。
工作原理
在测试过程中，当样品发生膨胀时，图中所有的绿色部分将在线性导轨（图中蓝色部分）的引导下向后移动，并由光学测出相应的长度变化。仪器特点DIL 402 Expedis Classic 既可配备为单样品系统，也可配备为双样品/差示系统。仪器为一体化设计，两个版本的主机均已集成了精确测量热膨胀所需的所有硬件。既没有多余的外部电缆，也不需要额外的冷却水浴。

DIL 402 Expedis Classic - 技术参数
温度范围：RT … 1600°C
升温速率：0.001 50 K/min
测量系统：NanoEye（单样品，或双样品/差示系统）
样品支架：熔融石英或氧化铝，可自由更换。
温度准确度：1 K
温度精度：0.1 K
m.CTE（平均线膨胀系数）重复性：10-8 1/K
测量范围：± 5000 μm
分辨率：2 nm（全量程）
样品长度：0…52mm（自动样品长度测量）
气体控制：1 路（标配），或 3 路（选配）
气氛：惰性，氧化性，静态/动态
可选配空气压缩冷却系统