二手网络分析仪R3764/3765系列

    R3764/3765系列3.8GHz网络分析仪能够快速和精确地测量幅度、相位、群延迟和阻抗。测量的频率范围为40MHz~3.8GHz。由于它具有高速信号处理结构，R3764/3765系列网络分析仪可以进行10kHz RBW（IF带宽）的0.25ms/点的快速测量。R3764系列可以作为一个系统的组成部分，而R3765系列可应用于生产线或工程中。每一系列包括三种型号：A型（基本型），B型（内置电桥）和C型（内置S参数测试装置）。由于使用荧光特性显象管的简单结构，R3764系列的价格相对比较便宜，而R3765系列采用独立的分析仪功能和容易读数的7.8英寸大TFT彩色LCD显示，所以很容易进行数据比较和模式分析。内置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和条码输入功能，使它很容易完成测量、分析和评估以及建立一个高速ATE（自动测试装置）系统。因此，R3764/3765系列在使用标准FDD格式（720K，1.2M和1.44M字节）和内部标准SCPI指令的情况下，非常适合作为系统组成部分。

★测量频率范围：40MHz~3.8GHz
★用于特定场合的三种类型：
....A型：基本型
....B型：内置电桥型
....C型：内置S参数测试装置
★高速扫描
....0.15毫秒/点（带有标称校准）
★高速测量：0.15毫秒/点
★具有4通道和8迹线的多功能显示
★100dB宽动态范围
★对于扫描中不同RBW和输出电平的标准程序扫描功能

针对不同应用的可选择*系统
    根据你应用需要可以从R3764/3765系列中选择出*型号。A型提供了内置信号隔离器和两个输入终端，可同时进行两个器件的测量。将A型连接到选件双工器测试装置上，它可以用在手提前部，用三个端口（AND、RX和TX端口）进行双工器测量。当作为选件功放测试装置的组成部分时，主机可以修正并可同选件VIGs连用，这样手提的功放就可以测量了。在这种情况下，A型可以满足多种应用场合。
    B型装有功分器和SWR电桥，能够同时测量传输和反射。当使用B型时，通过校准1口就可实现高精度测量。
    C型装有S参数测试装置，这种装置提供了功分器和两个SWR电桥以及一个用于正向/反向转换的半导体转换开关。在自动反向模式中，C型可以高精度测量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。

作为系统的组成成分
    32字×8行的荧光屏显示，R3764A/B/C（3.8GHz）

独立应用
7.8英寸TFT彩色LCD，R3765A/B/C（3.8GHz）
仪器类型 特征 应用 典型应用场合
单极性BPF 多极性BPF 双工器 功放 2-DUT同时测量
A型通用模式R3764A，R3765A 测试装置连接 〇 〇 〇 预处理：介质滤波器 双工器 SAW滤波器等检查过程：功放等
B型|Z|测量模式低成本类型R3764B,R3765B 内置电桥传输反射同时测量 〇 预处理：介质滤波器 双工器 移动台天线等检查过程：移动天线等
C型参数全部测量模式R3764C，R3765C 内置S参数测试装置正向/反向测量 ○

0.15ms/点的高速扫描
   在电介质滤波器、SAW滤波器、隔离器、环行器、功率放大器、天线和其它电子元件的生产线的测量系统中，总产量是一个至关重要的参数。R3764/3765系列能够实现0.15ms/点（10kHz RBW和归一化校准）或0.25ms/点    （10kHz RBW和2端口校准）的扫描速度。

具有4通道和8迹线的多功能显示
   由于具有4通道和8迹线显示功能，R3765C能够在直角坐标和极性坐标中用Smith圆图对2端口器件的四个S参数（S11，S21，S22和S12）同时进行显示，这样就便于对测量数据进行快速分析。而且，具有TFT彩色LCD的        R3764/3765系列网络分析仪通过使用重叠数据显示和限制线功能可以对数据进行识别。

100dB宽动态范围
    作为信息和通讯设备用于窄带和高频测量时，它内部装有用于测量电介质和SAW滤波器的更高、更真实性能指标的指令。R3764/3765系列的100dB宽动态范围（10Hz RBW）非常适合于测试这类电子元件，例如测量通常的波纹和阻带的失真信号。

针对不同RBW和输出电平的标准程序扫描功能
    程控扫描功能可以设置扫描频率以及改变分辨率带宽和输出电平。在测量滤波器特性时，通过改变分辨率带宽和输出电平可以实现通带和阻带中的更快速和更精确的特性测量。

技术指标

测量功能
...显示通道：2通道（4迹线）：A型和B型
............4通道（8迹线）：C型
显示参数：

R3764A/3765A R3764B/3765B
R3764C/3765C
A/R，B/R 传输，反射传输＆反射 S11，S21，S22，S12
S11＆S21，S22＆S12

格式
...直角坐标：对数/线性幅度，相位，群延迟或复杂参数的实部和虚部
............[Z]，R，X：（在阻抗转换测量中）
............[Y]，G，B：（在导纳转换测量中）
...相位显示扩展功能
...Smith图表（只限于R3765）：对数/线性幅度，相位，实部和虚部，R+jX，G+jB
...极性坐标（只限于R3765）：对数/线性幅度，相位，实部和虚部

信号源特性
...测量频率：
......范围：40MHz~3.8GHz
......分辨率：1Hz
......精度：±20ppm（25℃±5℃）

...输出电平：
......范围：+17dBm~-8 dBm（A型）
.........+7 dBm ~-18 dBm（B型）
.........+10 dBm ~-15 dBm（C型）
....分辨率：0.01dB
....精度：±0.5dB（50MHz，0dBm，25℃±5℃）
....线性度：25℃±5℃
A型 B型 C型
±0.4dB +12 dBm ~-3 dBm +2 dBm ~-13 dBm +5 dBm ~-10 dBm
±0.7dB +17 dBm ~-8 dBm +7 dBm ~-18 dBm +10 dBm ~-15 dBm
平坦度： 2.0dBp-p（25℃±5℃）
输出阻抗：50欧姆

信号纯度：
谐波失真：≥-20dBc（在zui大输出时）
非谐波失真：≥25dBc（在zui大输出时）
相位噪声：在10kHz偏差和1Hz带宽处，-85dBc+20log（f/40MHz）

扫描功能
扫描参数：频率和信号电平
zui大扫描范围：
频率范围：40MHz~3.8GHz
信号电平：+17dBm~-8 dBm（A型）
+7 dBm ~-18 dBm（B型）
+10 dBm ~-15 dBm（C型）
范围设置：STAR/STOP或CENTER/SPAN
扫描类型：线性/对数频率扫描，部分和目标值频率扫描，电平扫描，CW（信号频率）扫描
扫描时间：0.15ms/点（归一化）
0.25ms/点（2端口同时校准）
zui小的扫描时间取决于测量格式，误差修正模式，每点的扫描宽度，测量点的数量和IF带宽。
测量点：3，6，11，21，51，101，201，301，401，601，801，1201
扫描触发：可由"连续，保持，单一扫描"或"外部触发"中设置
扫描模式：
双通道扫描：两个通道以同样的频率范围进行扫描
不同扫描：两个通道以不同的扫描类型和不同的频率范围进行扫描

接收机特性
分辨率带宽：10kHz~10Hz

幅度特性
幅度分辨率：0.001dB
动态分辨率：参考低于测试口zui大输入电平20dB处
0~-10dB ±0.3dB
-10~-20dB ±0.05dB
-20~-50dB ±0.05dB
-50~-60dB ±0.1dB
-60~-70dB ±0.15dB
-70~-80dB ±0.40dB
-80~-90dB ±1.00dB
测量精度：±0.5dB（-10dBm，25℃±5℃）

相位特性
测量范围：±180°（相位超过± 180°时可以借助于相位显示扩展功能进行显示）
相位分辨率：0.01
频率特性：±5°25℃±5℃）
动态精度：参考低于测试口zui大输入电平20dB处
0~-10dB ±5.0°
-10~-20dB ±0.3°
-20~-50dB ±0.3°
-50~-60dB ±0.4°
-60~-70dB ±1.5°
-70~-80dB ±4.0°
-80~-90dB ±8.0°
群延迟时间特性
范围：按下列公式计算：
γ=ΔΦ/（360×Δf）
ΔΦ：相位
Δf：孔径频率
测量范围：1ps~250s
群延迟时间分辨率：1ps
孔径频率:等于^f。可以A%的分辨率在频率带宽的A%~范围内设置。
A=100/（测量点-1）
精度：相位精度/[360×孔径频率（Hz）]

测试端口特性
测试端口回波损耗：25℃±5℃
18dB（40MHz~2.6GHz）
16dB（2.6GHz~3.8GHz）
方向性：25℃±5℃
30dB（40MHz~2.6GHz）
26dB（2.6GHz~3.8GHz）
串音
A/B型 C型
90dB 90dB（40MHz~2.6GHz）
85dB（2.6GHz~3.8GHz）
连接器：N型（f），50欧姆
噪声电平：测试端口的zui大输入电平
-90dBc（3kHz BW）
-100dBc（10kHz BW）
zui大输入电平：0dBm（A/B型）
+15dBm（C型）
输入破坏电平：+20dBm

误差修正功能
    归一化：在传输和反射测量中，频率响应（包括幅度和相位）被修正。
    1端口校准：在反射测量中，电桥方向性、频率响应和源匹配引起的误差被修正。（在误差修正中需要短路器、开路器和负载）
    2端口校准：在传输和反射测量中，方向性、频率响应和源匹配引起的误差、负载匹配、和隔离度被修正。
    数据平均：对每次扫描的数据（矢量）进行平均。平均次数可在2~999范围内选择。
    数据平滑功能：在邻近的测量点间取平均。
    电子长度修正：测量相位和群延迟时间加上相同电子长度或延迟时间。
    相位偏差修正：连续见相位偏差加到测量的相位上

显示部分
R3764系列：
显示单元：荧光屏显象管（绿色）
分辨率：256×64点
显示模式：字母显示模式，8行，每行32字母

R3765系列：
显示单元：7.8英寸TFT彩色LCD
分辨率：640×480
显示模式：直角LOG/线性坐标，极性坐标，史密斯图表（阻抗/导纳显示）
测量条件显示：起始/终止频率，中心频率/带宽，标尺/格，参考电平，光标值，软按件功能，告警语句
参考线位置：：垂直坐标的上部
0%：内存的底部
自动标尺：参考值和标尺被设置好，这样测量迹线可以在*的位置上进行显示
亮度：黑屏可以打开或关闭

其它功能
光标功能：（于R3765系列）
光标显示：光标读数可以转换成与每次测量格式相关的显示值。
多光标：每个通道可设置高达10个光标。
Delta光标：10个光标中任一个都可设定为参考光标，这样就可测量两个光标间的Delta值。
光标偶合：每个通道光标都可以组合或独立的形式进行设置。
MKR搜索：MAX（zui大值）搜索，MIN（zui小值）搜索，NEXT（下一个）搜索
光标跟踪：每次扫描都能进行光标跟踪。
目标值搜索：用-X dB，中心频率和Q值计算点的带宽和用相位0，±X频率宽度搜索频率点。
MKR→：MKR→参考值，MKR→START（起始频率），MKR→STOP（终止频率），MKR→CENTER（中心频率）

程控功能
BASIC控制器功能：
标准的控制器功能可以对仪器或通过GPIB接口多其他测量仪器进行控制。
内置功能：借助内置功能可以进行高速数据分析。
FDD功能：符合MS-DOS格式，兼容3种模式（DD 720KB，HD 1.2MB/1.4MB）

系统功能
外部监视器输出：可接到VGA
GPIB：支持IEEE488.2通用指令和SCPI指令
24位输入和输出：TTL电平，8位输出（2端口），4位输入/输出（2端口）
RS232：串行输入/输出接口，符合RS-232C接口标准。
外部参考频率输入：1，2，5，10MHz，0dBm

一般指标
工作环境：
在使用FDD时：
工作温度：+5~+40℃
工作湿度：≤80%（非凝结）
在没使用FDD时：
工作温度：+0~+50℃
工作湿度：≤80%（非凝结）
存储环境：-20~+60℃
电源：100~240VAC，48~60Hz
尺寸：近似为424（长）×220（高）×400（宽）mm