详细信息

产品介绍：

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。

波威提供的MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪。

MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。

产品特点：

l  采激光器：224nm (5.5 eV)或 248.6nm (5.0 eV)

l  光谱范围：230-650nm（@224nm激发）或250-650nm（@248.6nm激发）

l  分辨率：0.7nm（@1200g/mm光栅，标配）

        0.2nm（@3600g/mm光栅，选配）

l  探测器：高灵敏度PMT

l  采集器：门闸积分平均器Boxcar

l  光谱分析软件（LabView）：半峰宽、峰值波长、副峰鉴别、背景扣除、归一化等

l  可测量50mm直径样品，标配XYZ三维手动可调样品台

l  体积：15 x 18 x 36cm，重量：<8Kg

升级选项：

l  X-Y电动样品台，实现Mapping功能

l  低温制冷机：10K-325K或77K-600℃可选

产品应用：

l  表征半导体材料掺杂水平

l  合成组分分析

l  带隙分析等

l  半导体LED产业中的品质检测

产品参数：

型号	规格描述
MiniPL 5.0eV	NeCu激光器(248.6nm),三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm)，驱动及软件；
MiniPL 5.5eV	HeAg激光器(224.0nm) ,三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm)，驱动及软件；
升级选项
光电倍增管选项	升级为190-850nm
光栅选项	增加第二块光栅（3600g/mm）
Mapping功能选项	升级为X-Y自动扫描样品台
低温制冷选项	4K，6.5K，10K低温制冷样品室，低震动设计，振幅小于5nm （选配低温选项时不能同时进行Mapping测量）