IKEIDARIKA池田理化正电子光谱TypeL-II-AS

IKEIDARIKA池田理化正电子光谱TypeL-II-AS

PSA TypeL-II ,TypeL-II-AS,PSA TypeL-P

正电子寿命光谱是一种非破坏性和高度灵敏的方法，用于评估原子级缺陷、分子间空隙和空位结构。L-II型是可以高精度测量小型试件的机型，主要面向研究开发现场使用。与用于现场测量的LP型相比，它在测量精度和测量效率方面具有优势。L-II-AS型是在L-II型上安装了进样器机构的型号。连续测量固定形状的样品时，无需更换样品即可高效获取数据。

正电子寿命测定法是评价空位型晶格缺陷、分子间空隙等微小空隙的非破坏性、高灵敏度的方法。这些微孔的测量实例有很多，作为材料劣化行为的有用评价指标，无论它们是金属还是聚合物。

该设备PSA TypeL-P主要针对现场测量，具有比标准型号(PSA TypeL-II)更小、更轻的专门结构。此外，利用新技术"反符合系统"，可以进行现场测量，甚至可以对大型结构进行非破坏性测量。

特征:

可以进行亚纳米级的微孔评价(测量对象:金属、聚合物等)。

无损测量。

可用手机电池供电。

紧凑轻巧的结构(单手即可携带)。