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  • 25800
  • ≥1台
GCSTD-D 半导体高低频介电常数测试仪

具体成交价以合同协议为准

2023-10-24北京市
型号
GCSTD-D
参数
品牌:中科微纳 产地:国产 加工定制:是 测试参数:C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR 测试频率:20?Hz~2MHz,10mHz步进 测试信号电:10mV~5V,±(10%+10mV) 平:10mV~1V,±(20%+10mV) 输出阻抗:10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω 基本准确度:0.1% 显示范围:0.0001?nS?~?99.999?S 校准功能:开路?/?短路点频、扫频清零,负载校准? 等效方式?:串联方式,?并联方式 量程方式?:自动,?保持? 显示方式?:直读,?Δ,?Δ%? 触发方式:内部,?手动,?外部,?总线?
北京中科微纳精密仪器有限公司

中级会员3生产厂家

该企业相似产品
粉末测试、炭素石墨材料测试、电池检测仪器、预焙阳极及电极糊检测等。
产品简介
半导体高低频介电常数测试仪-本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。
详细信息

半导体高低频介电常数测试仪

满足标准:

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法


半导体高低频介电常数测试仪试验方法:

接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

液体电极-液体容量15ml

粉体电极-根据样品量可配专用电极

试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物


性能特点:

测试频率20H2~2MHz,10mHz步进

测试电平10mV~5V,1mV步进

基本准确度0.1%

高达200次/s的测量速度

320x240点阵大型图形LCD显示

五位读数分辨率

可测量22种阻抗参数组合

四种信号源输出阻抗

10点列表扫描测试功能

内部自带直流偏置源

外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)

电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

V、1测试信号电平监视功能

图形扫描分析功能

20组内部仪器设定可供储存/读取

内建比较器,10档分选及计数功能

多种通讯接口方便用户联机使用

2m/4m测试电缆扩展(选件)

中英文可选操作界面

可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序


测试材料:

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件

等的阳抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

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产品参数

品牌 中科微纳
产地 国产
加工定制
测试参数 C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR
测试频率 20?Hz~2MHz,10mHz步进
测试信号电 10mV~5V,±(10%+10mV)
10mV~1V,±(20%+10mV)
输出阻抗 10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω
基本准确度 0.1%
显示范围 0.0001?nS?~?99.999?S
校准功能 开路?/?短路点频、扫频清零,负载校准?
等效方式? 串联方式,?并联方式
量程方式? 自动,?保持?
显示方式? 直读,?Δ,?Δ%?
触发方式 内部,?手动,?外部,?总线?
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