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WBE-KSWDCJ01快速冷热交替气流仪

具体成交价以合同协议为准

2023-02-09苏州市
型号
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led高低温冲击试验箱
产品简介
热流仪快速冷热冲击测试机高低温热流仪高低温气流仪快速冷热交替气流仪电子芯片热流仪 热流仪、快速高低温冲击测试仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
详细信息
产品详情

热流仪/快速高低温冲击测试机与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比主要优势:
1、可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块),单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
2、inTEST 对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击;传统高低温试验箱无法针对此类测试

产品特点

【工作原理】

  1、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

  2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。


【工作模式】

  A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8 系统

  B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUTMode测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)

技术规格

       1. 设备型号:WBE-KSWDCJ01

  2. 样品盒尺寸:直径140mm×高50mm

  3. 制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统,温度可达-70℃

  4. 噪音:≤65dB(A声级)

  5. 条件:风冷式环境温度在+23℃时

  6. 温度控制范围:-70℃~+250℃

  7. 冲击温度范围:-60℃~+200℃

  8. 温度转换时间:≤10秒

  9. 温度偏差:测试品恒定在-40℃时,温度偏差为±1℃

  10.冲击气流量:1.9~8.5L/s(分为8路,每路0.23~1.06 L/s)连续气流

  11.温变速率降:RT+10℃降至-40℃≤60s

  12.试品表面温度:RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到,气体温度与样品温度可选择测控

  13.控制系统:采用进口智能PLC触摸屏控制,7寸彩色屏

  14.试品:带2套1拖8 系统,金属封装PCB板模块8片;

  15.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

  16.外形尺寸:宽650×高1400×深900(mm)以实物为准

  17.使用电源:220V 3KW

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