测试原理

通过软件程序控制，让X射线发生路产生适合的X射线去激发测试薄膜材料中的Si或者其他元素，被X射线激发后变为不稳定态,高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收,因每个元素都有自已特定的能量特征线,通过探测器的识别，计算机软件的计算,即可准确识别该元素,并计算出含量。

仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达到125eV,能分辨AI(铝)元素和Si(硅)元素。

技术特点

● 测试采用X射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材

● 配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然

● 光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发

● 设备集成多个usb接口，数据和通讯传输满足多种要求

● 测试下限好，可准确测量0.01g/m2的涂硅量

● 空气光路内部环境得到显著优化，大气环境-样可以直接测试

● 采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确

● 一键测试/操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确

● 快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性

技术参数

产品优势

离型剂研发过程中的应用

1.通过测试涂布量，探索离型涂层的离型力与涂布量的关系

2.借助硅涂布量测试仪，可以测试离型涂层的萃取率，研究离型剂产品的固化情况

3.控制某一个确定的涂布量值，探索其他因素对离型涂层性能的影响

4.有机硅离型剂出厂前的检测以及客户涂布的离型剂纸(膜)的质量监测