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F-SLGS1040 双棱镜干涉实验

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2022-08-20北京市
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实验仪器
产品简介
F-SLGS1040双棱镜干涉实验调整光路,观察分波面干涉的干涉条纹,体会分波面的干涉原理和干涉理论
详细信息
F-SLGS1040 双棱镜干涉实验
  • 调整光路,观察分波面干涉的干涉条纹,体会分波面的干涉原理和干涉理论。
  • 测量干涉条纹的间隔,推算激光波长。
  • 光学实验导轨:1200mm。
  • 半导体激光器:650nm, 4mW。
  • 透镜(带框): f=100mm,f=60mm,通光直径:38mm。
  • 激光功率指示计:三位半数字表头,量程:200μW, 2mW, 20mW, 200mW,可调档。最小分辨率0.1u W。
  • 大一维位移架+12档光探头:位移范围100mm,精度0.02mm,光栏直径:0.5、1、2、3、4、6mm。光栏宽度:0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
  • 一维可调导轨滑块:调整范围:10mm。

采用高稳定度和长相干性的半导体激光器作为光源,以带有小孔和狭缝光栏的功率计作为光强分布的探测器,与传统的读数显微镜方案相比,本实验采用的方案更加客观准确。
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