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L180 L180美国LEE 测厚仪
具体成交价以合同协议为准
2022-07-26北京市
- 型号
- L180
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产品简介
简单介绍： L180美国LEE 测厚仪采用了涡流测厚法，是一种超小型测量仪，可无损地测量非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
详细信息
L180美国LEE 测厚仪
由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。该仪器设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用。L180 具有一键操作功能，无须校准，也不用重设即可进行下一次测量，无需对操作人员进行培训即可操作。
由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量；该仪器坚固耐用、用途广泛，可单手操作。该仪器设计便携耐用，使其能在苛刻条件下正常使用。L180 具有一键操作功能，无须校准，也不用重设即可进行下一次测量，无需对操作人员进行培训即可操作。
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
分辨率：1μm
L180 涂镀层测厚仪的详细介绍
L180 涂镀层测厚仪功能：
可进行零点校准及全量程校准。
可进行零点校准及全量程校准。
红宝石防磨探头。
可对探头进行基本校准。
具有自动关机功能。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
可对探头进行基本校准。
具有自动关机功能。
操作过程有蜂鸣声提示。
有欠压指示功能。
有错误提示功能。
L180涂镀层测厚仪指标：
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
测量原理：涡流法
测量范围：1～1250μm
测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）
分辨率：1μm
工件要求：*小曲率半径（mm）凸5 / 凹 10 ；接触*小面积直径10(mm) ；基体临街厚度（mm） 0.3
使用环境：温度 0-40摄氏度； 湿度 20%-75% ； 无磁场环境
电源：四节1.5伏AAA电池
外形尺寸：112 ×69×28mm
重量：82 g(不含电池)
标准配置：
主机、标准校准片组、校准铁基体、使用指南、校准片检验报告、手提箱、挂绳及电池等
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