产品描述;高清平板探测器,用于工业X-RAY检测成像,50UM分辨率,是工业X射线成像装置。
技术参数:
类型 | CMOS |
有效面积 | 58.6mm*63mm |
像素矩阵 | 1172*1260 |
像素尺寸 | 50µm |
闪烁体 | CsI |
能量范围 | 40kV~120kV |
ROI | 支持自定义 |
触发模式 | 内触发/外触发 |
空间分辨率 | ≥10.0lp/mm@1×1 |
图像位数 | 16bit |
*大帧速率 | >16fps @1x1,>32fps @2x2 |
MTF | ≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm |
电源 | DC12V±10% |
功耗 | ≤10W |
使用环境 | +10ºC~+40ºC |
存储环境 | -20ºC~+60ºC |
整机尺寸(W×L×H) | 180mm×193mm×56mm |
重量 | 2kg |
注:MTF等数据可以根据用户需求调整
cmos平板探测器尺寸图
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