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XAD是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪产品优势:微小样品检测:测量面积小至0.008mm²变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准确测量*的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计:实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换
全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。
多元迭代EFP核心算法
专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代研发出EFP核心算法,结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。重复镀层应用:不同层有相同元素,也可准确测量和分析。如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,一层Ni和三层Ni的厚度均可测量。有害元素检测:RoHS检测,可满足铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr VI)等有害元素的成分检测及含量分析
品牌 | 其他品牌 |
产地 | 国产 |
加工定制 | 是 |
高性能探测器 | SDD硅漂移窗口面积20/50mm^2 |
样品腔尺寸 | 530mm*570mm*150mm |
仪器尺寸 | 550mm*760mm*635mm |
对焦距离 | 0-30mm |
仪器重量 | 100KG |