专为对贵重物品和静止物体进行现场分析而设计

ARTAX是个商业化的便携式微区 X 射线荧光光谱仪，设计用于满足对贵重的物品如考古和艺术品进行现场成分分析的需求。
·  对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析，分析元素范围11Na-92U，空间分辨率达到70微米。
·  适用于用于现场对各种尺寸、形状的样品进行无损检测。
·  模块化的设计允许许多应用，文物保护、考古、刑侦以及商检等领域。
·  第四代XFlash®SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术， 不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。
·  灵活的设计，样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台，防碰撞保护，可以自动完成点、线、面扫描功能。
·  配有各种靶材的低功率X射线光管、CCD相机、微聚焦多孔毛细管镜、XYZ样品台、*。
·  微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上。
·  根据应用要求不同，可提供多种配置。
 

ARTAX系统的核心部件是它的紧凑式的探测头：
含有特殊设计的、fei常紧凑的，具有微聚焦X射线管；
毛细管聚焦光学系统产生一个高光强微区；
一个紧凑的，高分辨率，无氮且高速/低噪的XFlash® SD探测器；
*的观测、分析、采样点定位系统。

快捷的X射线光管更换
       测量头由一个含有探测器单元、CCD相机和指示激光组成。位于旁边的激发单元，由光管外壳、X射线光管、X射线光学系统组成，通过锁紧固定，便于快速更换。这样的设计，令用户可以选择合适的激发源或者靶材，也可以快速跟换X射线光学系统。
基于三脚架的便携性
       测量头、电动马达驱动X-Y-Z三向定位平台和控制模块都被安置于一具可移动的、减震三脚架上。这样的设计使整个测量系统在工作时可以根据被测物的具体形状和位置自由定位，同时驳斥重复性优于±10 μm。
轻质元素分析
       ARTAX 具有氦气保护系统，用于轻质元素的测量分析。使用氦气保护，测量的范围可以从在空气中的Ti(22) 至 U(92) ，下降到 Na(11)。使用氦气保护的额外的好处是，使得原本在真空中可能的样品，避免受到伤害。轻质元素检测性能，使得那些原本重要，却不被重视的 元素得以被检测到，如P(15), S(16) 和Cl(17) 以及 Al(13) 和 Si(14)等。
 

其它特性：
由于更加紧凑的测量头设计的样品测量距离，令样品可接近性大大改shan；
接触传感器可避免艺术品的损坏
辐射防护：增加了一个基本功能，可以直接访问的终止控制开关；
安quan措施，如额外的警告灯，安quan门联锁触点，等；
轻质元素测量时，软件可以实现氦气流量控制；定位激光也可以实现软件控制。
功能强大的ARTAX软件--SPECTRA：
XRF软件用于控制硬件功能，实现光谱采集和存储；
元素识别，峰解谱功能，用于计算光谱---背景归一以及峰净面积计算；
强大的定性分析、定量计算功能；
报告和数据输出功能
同时显示100条光谱；
可以创建400万条光谱的数据库；
基于DCCR算法，进行定量计算（DCCR: Direct Comparison of Counting Rates）
匹配筛选功能，可以在库软件中筛选出相似谱线.文物保护、文物修复、考古、艺术品、笔迹鉴定、书画、刑侦、材料研究、电子、汽车、航空航天等领域。