Hot Disk设备不仅可以根据探头的选择，还可以根据可用的测量模块来定制测试需求。这些模块允许测试不同几何形状、导热范围和材料类型的样品。各向同性标准模块是所有配置的核心，而可选模块为Hot Disk配置添加更多新功能。

各项同性标准模块

块体导热系数的全面测试

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

各项同性标准模块

强大的各向同性测量模块允许Hot Disk用户测量任何各向同性块体样品的导热系数、热扩散率和比热容，无论是固体、液体、粉末、膏体还是泡沫。用该模块测得的导热系数是样品被检测的体积的几何平均值。使用各向同性模块很简单，只需要最少的输入参数。即使是一个未知材料性能的样品也可以很快地进行测试和分析。

各向同性测量模块具有单面和双面试样测试功能。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK

TPS 1500 0.03-50 W/mK

TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK

Hot Disk M1 0.03-40 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

平板模块

板材或平板样品的二维方向导热系数测试

TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)

平板模块

利用平板测量模块，可以对高导热性材料的晶圆片、片或板进行测试。在适合用这种方法检测的样品中，我们测量过如金属、半导体和石墨。该方法在已知样品厚度的前提下，只需要将测量时间和输出功率作为数据输入即可，使用起来非常简单直观。

平板测量模块需要两个相同的样品片，以准确的测量。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK

TPS 2200 1*-500W/mK

TPS 500 S 1*-200 W/mK

*为了达到测试精度建议测试5W/mK以上的样品，但低至1W/mK的样品都可得到很好的重复性。

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S

各向异性模块

方向依赖性的导热系数测试

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

各向异性模块

各向异性测量模块提供了*的能力，以测量样品在轴向和径向分别的导热系数。能够测试导热系数的各向异性对许多应用来说是非常重要的。在任何涉及加热或冷却的情况下，例如电池、电子产品和建筑材料领域中，能够确定这一特性是至关重要的。这种类型的测量通过预输入检测样品的比热容即可实现。比热容，如果不能在科学期刊中找到，或从以前类似材料的测试中得知，可以很容易和准确地使用专用的TPS测量模块进行测试。

各向异性测量模块具有单面和双面样品测试的特点，但建议使用双面测试以达到精度。

各向同性测量模块具有单面和双面试样测试功能。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK

TPS 2200 0.005-500W/mK

TPS 1500 0.005-50 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

薄膜模块

测试透过薄膜的导热系数

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200

薄膜模块

薄膜模块用于测量通过导电体或板式衬底上的绝热薄膜或涂层的导热系数。通过测量薄膜上的热阻并输入薄膜厚度即可得到导热系数。薄膜的厚度可测20到500μm。

薄膜测量模块需要两块相同的样品薄膜进行测试。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200

比热模块

复杂样品的直接Cp测试

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)

比热模块

该专用模块擅长于确定固体或液体样品的比热容。与所有其他Hot Disk测试一样，这个过程是温和的，没有破坏性的。被测试的样品被放置在一个绝热包裹的金容器中，使用设定的加热功率小心地加热几度，可以实现非常精确的比热计算。

比热容测量模块是为单试样测试而设计的。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 5 MJ/m³K

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S

单面模块

测试有限体积的样品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

单面模块

虽然最准确的导热系数测量是通过探头夹在两个样品之间进行的，但如果样品量小，所有TPS仪器都可以进行单面测试。这种类型的测试表现出与标准测试同样出色的重复性，并使快速QC测量或快速比较研究成为可能。单面测试的一个*的缺点是测试结果的精度略低，这是由于探头周围的热流必须是不对称的。除此之外，绝热背景材料的使用可以准确的测试高导热样品，而低导热样品(例如许多聚合物)只能得到蓄热系数。单面测试不需要额外的设备，只需要使用任何绝热材料来固定探头即可。这是所有Hot Disk型号都提供的功能，并可以根据您的需求提供的绝热背景材料。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK

TPS 1500 0.1-400 W/mK

TPS 500 S 0.1-200 W/mK

TPS 500 0.1-100 W/mK

*要达到精度，样品至少需要1W/mK;然而，直到0.1W/mK都可以保持很好的重复性和蓄热系数。

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

一维模块

棒状样品的导热系数测试

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)

一维测试模块

当测试高导热材料时，如果样品体积有限，一维方法是非常有用的。该模块测试棒状试样沿轴向的导热系数和热扩散系数。这里探头的直径应该与样品的直径相匹配，这允许测量非常小的样品，小到直径1.5毫米和长度4毫米。

一维测量模块具有单面和双面试样测试的特点。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK

TPS 1500 1-400 W/mK

TPS 500 S 1-200 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S

低密度/高绝热模块

测试最轻且最绝热的样品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

低密度/高绝热模块

为了提高非常低导热材料(如气凝胶)的测试准确性，这个模块是的补充。这些材料的导热系数如此之低，以至于通过探头中间(在本例中是电缆)的热损失变得非常显著。利用该模块可以精确地校正热损失，使测量极低的导热系数成为可能。

低密度/高绝热测量模块需要两块样品进行测试。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

结构探头模块

识别样品内部的趋势及缺陷

TPS 3500 TPS 2500 S

结构探头模块

*的结构探头测量模块使测量导热系数随探测深度的变化成为可能。该方法可用于非均匀性物质的均匀性检测、缺陷检测或分析。为了精确测量，需要预先测量试样的平均比热容。

结构探头测量模块具有单面和双面试样测试功能。

导热系数测试范围：

系统 范围

TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S

自动控制模块

TCP/IP协议远程控制

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

自动控制模块

该模块允许通过TPC/IP协议远程操作TPS仪器。当使用仪器进行在线或近线应用时，如质量控制，或当操作员不能直接使用仪器时，这就是一个强大的工具。

适用系统型号：

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1