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EDX3000B X荧光光谱仪
具体成交价以合同协议为准
2022-03-24
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产品简介
金、银、铂、钯等成分，还可以用来分析镀层厚度
详细信息
金、银、铂、钯等成分，还可以用来分析镀层厚度。
技术参数
※. 样品室尺寸：1000＊1000＊300MM
※. 测量时间：60-300秒
※. 工作电源：220U±5U
※. 高 压：15-50KV
※. 管 流：600μA
※. 计数率：1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析
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