X光谱检测电镀层厚度仪器 检测膜厚仪器专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增 应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

元素成分分析:

镀液分析，目前常见镀液元素分析有：金、银、锡、铜、镍、铬、锌。

ROHS 和无卤检测，高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与 一机多用。

金属成分分析，在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。

检测精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属

检测限达1ppm。

对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准：

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%

B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%

C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

镀层检测仪供应 镉铜镍金银镀层厚度检测仪标准配置

镀层检测：

常见金属镀层有：

镀层 基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

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Cu

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Zn

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Fe

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SUS

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单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可 小测量达0.001um。

多层厚度范围:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

镀层层数为1-6层

镀层精度相对差值一般<5%。

镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

镀层分析优势：分析PCB金手指 小尺寸可达0.2mm

单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加准确
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护