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CST-50冲击试样投影仪
具体成交价以合同协议为准
2021-12-30
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产品简介
一、概述目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验
详细信息
一、概述
目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。
对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，具缺口的加上质量检验是一个重要的质量控制手段。日前用光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。
CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
该仪器还可用于机械零部件的外形轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具的检验、仪表元件和半导体元件的投影检测。
二、工作原理
本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。根据实际需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。
三、主要参数
投影屏直径：180mm；
工作台尺寸：
方工作台：110×125mm
圆工作台：90mm
工作台玻璃直径：70 mm
工作台行程：
纵向：10 mm
横向：10 mm
升降：12 mm（无刻度）
工作台转动范围：0 — 360°
仪器放大倍率：50×
物镜放大倍率：2.5×
投影物镜放大倍率：20×
光源（卤钨灯）：12V/100W
电源：220V/50Hz
外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
重量：约18kg
目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。
对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，具缺口的加上质量检验是一个重要的质量控制手段。日前用光学投影放大检查是切实可行并能保证检查质量的方法。
CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
该仪器还可用于机械零部件的外形轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具的检验、仪表元件和半导体元件的投影检测。
二、工作原理
本投影仪发出的光线经聚光镜照射到被测物，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏幕上。根据实际需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方向是一致的。
三、主要参数
投影屏直径：180mm；
工作台尺寸：
方工作台：110×125mm
圆工作台：90mm
工作台玻璃直径：70 mm
工作台行程：
纵向：10 mm
横向：10 mm
升降：12 mm（无刻度）
工作台转动范围：0 — 360°
仪器放大倍率：50×
物镜放大倍率：2.5×
投影物镜放大倍率：20×
光源（卤钨灯）：12V/100W
电源：220V/50Hz
外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
重量：约18kg
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