分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面、Langmuir比表面、外表面测定
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）
微孔孔径分布测试：氮分压10-5 - 10-1范围的等温吸附曲线测定，
0.35-2nm微孔孔径分布分析（HK或FS法）真密度测试
技术参数
测试方法：低温氮吸附法，静态容量法
测试气体：高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
极限真空：4×10-2 Pa （3×10-4 torr）
分压范围：P/P0准确可控范围4×10-5 –0.995
控制精度：测试压力点控制zui小间隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），
测试点大于1000个点；
测量范围：0.01（M2/g）-无规定上限（比表面），2 - 500nm（介孔孔径分析），
0.35 - 2nm（微孔常规分析）
测试精度：重复性误差±1.5%，
压力测量： 采用高精度进口薄膜压力传感器显著提高测试精度
样品数量：采用2个样品分析站，可进行2个样品分析，
2个样品脱气处理
液位控制：多途径液氮面控制与校正技术，确保测试的准确性，连续20h不添加液氮
测试效率：多点BET比表面每样平均20-30min
预 处 理：两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃；升温速率与时间可单独控制，
另可配置独立外置4位预处理机，测试效率更高
软件：BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等
数据采集：高精度双向数字采集模块，zui强的灵活性完成zui全面的数据采集，
误差小，抗*力强
数据处理：标准的windows窗口界面，易理解、学习、操作，丰富的比表面
和孔分析模型，图像分辨率高，易于维护，兼顾到系统后期扩展