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MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途 单色仪

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2022-09-29深圳市
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参数
产地:进口 加工定制:否
深圳市井泽贸易有限公司

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产品简介
MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途
采用新设计光学系统的正式聚氯乙烯。
CCD检测受光面全域空间分辨率优异。使用支管光纤等进行多点同时光谱测量,以及通过与显微镜连接进行光谱测量等。
MK-300成像光谱仪
EMDP-100埃壳光谱系统
CLP-400透镜光谱仪
CLP-50显微镜连接用成像光谱仪
CLP-105 UV紫外线成像光谱仪
MCC-135多波长同时测量相机
详细信息

MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途

MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途

 

MK-300成像光谱仪

采用新设计光学系统的正式聚氯乙烯。

CCD检测受光面全域空间分辨率优异。使用支管光纤等进行多点同时光谱测量,以及通过与显微镜连接进行光谱测量等。

衍射光栅最多可以搭载3张,搭载了电气控制器,可以用USB电缆连接PC,用附带的专用软件进行波长驱动和衍射光栅切换。

特点:

将散光减少到极限,大幅改善波长两端产生的分辨率降低

最多可以安装3个衍射光栅

多点同时光谱测量

观测图像的光谱测量

检测器的切换类型也有阵容。

规格:

反线型方差 2.58nm/mm

光学系统 像差校正型特殊光学系统

亮度 F=4.4

波长分辨率 半幅0.2nm3pixels以内)

迷光 5×10-3以下

波长准确度 ±0.2nm3pixels以内)

波长再现性 ±0.2nm3pixels以内)

衍射光栅切换再现性 ±0.2nm3pixels以内)

光学波长范围 2001000nm

波长移动方式 正弦机构、波长线性移动

波长驱动方式 步进马达驱动(PC・专用软件控制)

衍射光栅 时刻线有效50×50mm

衍射光栅切换方式 步进马达驱动(最多可搭载3张)

入射狭缝 宽度:0.014mm(双开对称连续可变・读取最小刻度0.01mm

手动快门(可选择自动快门)

软件 衍射光栅切换·波长移动(USB连接)

CCD检测器受光尺寸26.6mm1024×256pixels 26µm/pixels)的情况

 

EMDP-100光谱系统

这是一种通过Retroller色散棱镜和E壳衍射光栅的交叉分散双光谱配置,能够以高分辨率同时测量广波长范围的系统。搭载ANDORICCD检测器,可以使用分光仪表专用软件Blux进行控制。

通过结合各种测量用光学系统,可以对应等离子体光谱、PLLIBS等所有测量。

特点:

一台E壳光谱系统实现了波长范围200900nm的测量。

通过选择Retroller色散棱镜,可以从P1200270nm)、P2270410nm)、P3410900nm3种测量波长范围中选择。

测量分辨率在整个区域8500λ/△λ)达到以上。

在专用软件Blux中,可以进行从ICCD检测器测量的数据读取到光谱显示的数据处理(波长、顺序连接、等间隔校正等)。

 

规格:

光学布置 交叉色散双光谱仪

测量波长范围【3波长范围】 200900nm200270nmP1)・270410nmP2)・410900nmP3)】

测量分辨率 8500以上(狭缝宽度50μm)

半光谱宽度 0.020.1nm200900nm

焦距 波长色散用330mm阶数分离用200mm

开口比 F=10

波长色散 埃壳衍射光栅

次方差 利特勒分散棱镜

入射端口 XY调整功能的光纤支架

 

ICCD元件数 W2048×H512 pixel(有效1800×512pixel)

ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm

ICCD区域大小 W27.648mm×H6.912mm(有效W24.975mm×H6.912mm

 

MK-300成像光谱仪

EMDP-100埃壳光谱系统

CLP-400透镜光谱仪

CLP-50显微镜连接用成像光谱仪

CLP-105 UV紫外线成像光谱仪

MCC-135多波长同时测量相机

 

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