回收仪器MP2100B回收Anritsu MP2110A
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高价回收天馈测试仪（安立Anritsu）
S331D,S331L,S331E,S362E,
S331A,S332C,S332D,S331B,S332E,S412E

用于100/200 / 400G多通道块/器件的研发和制造
一体化仪器，内置 BERT 和采样示波器
多可使用 4 通道 BERT 和双通道采样示波器同时测量
快速测量和高性能缩短测试时间，提高产量，并降低设备投入成本
采样示波器
约 5 秒时间可捕获 100 万个样本，采样速率高达 250,000 样本/秒
内置高灵敏度 O/E（-15 dBm，典型值，SMF）
高带宽：35 GHz (光, SMF), 25 GHz (光, MMF), 40 GHz (电)
低抖动：200 fs rms（典型值）
NRZ和PAM4信号分析能力，支持的53-Gbaud PAM4分析
用于NRZ和PAM4的内置时26/53 Gbaud钟恢复单元（CRU）  NEW
NRZ抖动分量分析
BERT
低抖动PPG：600 fs（典型值）
高灵敏度ED：25 mV（典型值）
内置PC支持稳定快速测量
使用示例程序轻松配置测量系统

BERTWave MP2110A 是一款内置误码率测试仪 (BERT) 和采样示波器的一体化测量仪器，支持光学模块的误码率 (BER) 测量、眼图分析等评估操作。
为了评估光学通讯系统中使用的光学模块，需要使用 BERT 和采样示波器。在此之前，评估 QSFP28 和 SFP28 等典型的光学模块需要使用独立的 BERT 和采样示波器，但有了内置 4 通道 BERT 和双通道采样示波器的一体化 BERTWave MP2110A，就无需再使用单独的仪器，从而降低了仪器投入资本和生产成本。
而且，BERTWave MP2110A 不仅可在光学模块的 RX 侧同时测量多达 4 个通道的误码率 (BER)，还能同时在 Tx 侧执行多 4 个通道的眼图模板测试和眼图分析。此外，MP2110A 采样示波器的采样速率高达 250,000 样本/秒（比上一代仪器快六倍），可更快地执行眼图模板测试和眼图分析。支持NRZ信号掩模边缘测量和抖动分析。还可以分析PAM4信号，并支持高达53 Gbaud的TDECQ测量。采用 BERTWave MP2110A 可同时执行 BER 测量和眼图分析，使测量时间缩短 65％。

MP2110A BERT 在标准配置下可测量 24.3Gb/s 至 28.2 Gb/s 的比特率，安装 Opt-093 后则可测量 9.5Gb/s 至 14.2 Gb/s 的比特率。内置采样示波器支持的带宽为 40 GHz（电学 I/F）、35 GHz（SMF，光学 I/F）和 25 GHz（MMF，光学 I/F）。此外，该采样示波器还标配内置 100 Gb/s 频段的贝塞尔滤波器，用于测量光学信号。的性能有助于确保提高光学模块的产量。
而且，简化的设置和易用的用户界面让 MP2110A 方便操作；向后兼容 MP2100B 的远程命令，确保仪器升级毫无烦忧。
另外，内置 PC 带来的稳定运行确保在任何操作环境下都能获得出色的性能。 BERTWave MP2110A 配备多通道 BERT、采样示波器、高速眼图分析和波罩余量测量功能，因此 可提高光学模块的生产效率，降低生产成本。

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