西安天光测控ST-DC2000_X半导体管特性图示仪

显示半导体器件的各种特性曲线；测量半导体器件的静态参数；能在不损坏器件的情况下，测量半导体器件的极限参数；晶体管双簇显示。欢迎垂询：Tel:173 -4295 -2894

参数查看，快速清晰。

大胆发现从未如此简单。ST-DC2000_X半导体管特性图示仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界首*）可提供测试指南并让您对结果充满信心。

测量、 切换、 重复。

ST-DC2000_X半导体管特性图示仪多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

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特点

◆无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

◆用户可配置低电流功能

◆个性化输出通道名称

◆查看实时测试状态

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

◆使用 ST-DC2000_X半导体管特性图示仪对高电容测试连接进行稳定的低电流测量

◆使用ST-DC2000_X半导体管特性图示仪，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。ST-DC2000_X半导体管特性图示仪有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。

◆通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

特点

◆不必将仪器送回工厂即可增加 SMU

◆进行 飞安测量

◆多达 9 个 SMU 通道

◆针对长电缆或大卡盘进行了优化

降低成本并保护您的投资

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