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电磁干扰发射探头组P603 / P750 set该探头组能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境,可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
电磁干扰发射探头组P603 / P750 set产品清单
P603 1Ω高频电流表
P603是1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点,借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。
技术参数
频率范围 | 9 kHz ... 3 GHz |
耦合电容的容量 | 8 µF |
测量输出 | 50 ?, SMB |
电压传递系数 | -6 dB |
电流表 | |
分流器 | 1 ? |
电流修正系数 R | -6 dB? |
电感 | 1 nH |
大功率损耗 | 2.5 W |
P750 150Ω高频电压表
P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路,它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入,因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。
技术参数
频率范围 | 150 kHz ... 3 GHz |
输入电阻 | 150 ? |
测量输出 | 50 ?, SMB |
电压传递系数 | -15.2 dB |
大直流输入电压 | 50 V |
大射频输入电压 | 3.5 V |
CS-ESA ESA芯片扫描软件
ESA芯片扫描软件用于遥控频谱分析仪,存储并记录测量曲线。这些曲线可以任意的相互或者与校正曲线、与频率相关的曲线和曲线常数换算。