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一、冷热冲击循环半导体测试温度冲击试验箱设备主要特点:
(01)试料槽*静止,可由测试孔外加负载配线;
(02)蓄能方式可避免使用者职业伤害;(注:液态气体所产生的废气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,而产生工作倦怠,注意力不集中等);
(03)采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器,操作简单,学习容易;
(04)温度制御精度高,全部采用PID 自动演算制御;
(05)可选择始动位置,高温或低温开始循环;
(06)具有预约起动功能;
(07)可设定循环次数及自动除霜;
(08)可选择二槽或三槽循环;
(09)运转状态显示;
(10)有异常或故障显示及排除方法说明;
(11)气动式阀门方便开启,保证气密及断热保护.
二、冷热冲击循环半导体测试温度冲击试验箱主要用途:
冷热冲击试验机能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产吕的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预测和改进产品的质量和可靠性依据。 用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航太科技及高级通信器材等产品在反复冷热变化下的抵抗能力。
技术参数
1、 温度范围:-40℃~+150℃、-55℃~+150℃、、-65℃~+150℃
2、 温度上限:+175℃
3、 温度下限:-60℃
4、 温度偏差:±2℃
5、 温度波动度:±0.5℃
6、 温度恢复时间:5min
7、 温度恢复条件:高温+150℃保温≥30min,低温-60℃保温≥30min,试品重量在规定范围内
8、 试品转移时间:≤15秒
9、 试品转移方式:采用气动
10、试品重量:≤3kg
11、高温室升温时间:30min (+25℃~+100℃)
12、低温室降温时间:60min (+25℃~-55℃)
13、噪音:(dB)≤65
14、电源:AC380V/50Hz+保护接地 1
5、总功率:20KW
型号及尺寸(D*W*H mm):
型 号 工作室尺寸 外形尺寸
COK-42L 400X300X350MM 1560X1950X1380MM
COK-80L 500X400X400MM 1650X1800X1730MM
COK-150L 600X500X500MM 1700X1800X1730MM
COK-225L 800X700X600MM 1800X1800X2400MM