X-Strata920镀层测厚仪行业覆盖率高

X-Strata920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点小可

达0.025 x 0.051毫米。

X-Strata920系列采用开槽式样品室，如左图示(图为程控

样品台)。它可提供三种规格的样品台供用户选用，分别

为：

标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

加深台：可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、

Z轴自动控制。

程控样品台：XYZ轴自动控制。

仪器原理及测量方法介绍

● 1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征

 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直

接接触或破坏被测物。

 薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适

用于无铅焊锡的应用。

 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

● 2.测量原理

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

X-Strata920镀层测厚仪行业覆盖率高