XJP607A工业显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级显微镜用户在使用时能够体验其*性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

XJP607A工业显微镜特点说明
1．  采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
2．  拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明视野法、偏光法，并在每一观
察法中均提供高清晰的图像质量。
3．  采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。
4．  WF10×（Φ25）超大视野目镜。
测微目镜：
测微目镜是各种光学测量仪器的附件，装配在适当的光学仪器上，可以作各种用途的测量。如测定孔距，各种刻线及键槽等的宽度和长度、金属表面质量、光谱带宽、纤维织物密度和野外标本等，也可以作某些显微硬度计的附件来测量压痕及划痕尺寸。