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CMI243是一款灵便易用的仪器,专为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使其成为紧固件行业应用的理想工具。 采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。 测量技术:一般的测试方法,例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式,由于探头的“升离效应”导致的底材效应,和由于测试件形状和结构导致的干扰,都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。而牛津仪器将的基于相位电涡流技术应用到CMI243,使其达到了±3%以内(对比标准片)的准确度和0.3%以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的*应用,将底材效应zui小化,使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外,仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。
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技术参数 | ||||||||||||||||||||||||||||
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