一项X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃的标准意见征集中
- 2020/11/24 11:44:05 15052
- 来源：化工仪器网
【仪表网 仪表标准】X射线荧光光谱法因具有制样简单、成本低、分析快速、准确、非破坏性和对环境污染少等优点，而被广泛应用在样品的分析检测中。在玻璃成分分析中，该方法也能有效克服难题，凭借优良的性能在工作量繁重的主次组分中进行快速分析，且该方法的精密度和准确度能满足生产要求的同时，其也能有效节约企业的成本。
钠钙硅玻璃化学成分决定玻璃的化学稳定性及成型时的工艺参数调整的依据，成分的稳定关系到成品瓶罐理化性能的稳定，故而制订新的规范标准势在必行。
根据国家标准化管理委员会下达的计划任务，广东华兴玻璃股份有限公司、东华大学、国家眼镜玻璃搪瓷制品质量监督检验中心等单位共同起草了《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K20、Na20、CaO、MgO含量》。该标准已经编制完成，目前正面向社会征求意见。
阅读标准征求意见稿后可知，《X射线荧光光谱法 测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K20、Na20、CaO、MgO含量》的内容包括有范围、规范性引用文件、术语和定义、原理、试剂、仪器和设备、试样、步骤、结果计算、分析结果允许误差、试验报告。为确保标准的科学性、可行性和适用性，起草单位还引用了GB/T 8170《数值修约规则与极限数值的表示和判定》、GB/T 6005《试验筛、金属丝编织网、穿孔板和电成型薄板.筛孔的基本尺寸》。
标准中所使用的测定方法的原理是用熔融法或压片法制成的样片，通过X射线管产生初级X射线照射到样片表面上，产生的特征X射线经晶体分光后，检测器在选择的特征波长相对应的2θ角处测量X射线荧光强度，根据校准曲线和测量的X射线荧光强度，即可计算出样品中各元素的质量分数。而该方法需要用到的仪器设备有熔样皿、铸型模、熔样机、烘箱、高温炉、电子天平、干燥器、自动磨样机等。
本标准与现行法律、法规和强制性国家标准协调一致，故而其将作为推荐性标准出台，为进一步确保标准的科学性和可操作性，希望相关单位能在仔细研核后，提出建设性意见，助力本标准更上一层楼！
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