《光纤试验方法规范》两项性能测量方法和试验程序征求意见
- 2023/3/27 10:56:07 22229
- 来源：仪表网
【仪表网 行业标准】近日，国家标准计划《光纤试验方法规范 第33部分：机械性能的测量方法和试验程序 应力腐蚀敏感性参数》《光纤试验方法规范 第40部分：传输特性的测量方法和试验程序 衰减》编制完成并征求意见，时间截止到2023年5月23日。主要起草单位为中国信息通信科技集团有限公司。
《光纤试验方法规范 第33部分：机械性能的测量方法和试验程序 应力腐蚀敏感性参数》
本文件规定了五种确定应力腐蚀敏感性参数的主要试验方法,确立了有关石英光纤应力腐蚀敏感性参数测量的统一试验程序和技术要求。本文件适用于A1、A2、A3类多模光纤、B类和C类单模光纤的测量。
IEC对光纤应力腐蚀敏感性参数方法的标准做了更新，2008年以来，IEC 60793-1-33 Edition 2.0在2017年8月进行了更新，新版标准中，适用范围从B1类扩大到全部B类单模光纤，且增加了C类单模光纤，更改了基准试验方法的规定。为了确保国家标准的先进性,因此有必要对GB/T 15972.33——2008进行修订。
本文件代替GB/T 15972.33-2008《光纤试验方法规范第33部分:机械性能的测量方法和试验程序——应力腐蚀敏感性参数》。本文件与GB/T 15972.33-2008相比，主要技术变化如下:
a)更改了“范围”的适用光纤类型，增加了A3类多模光纤和C类单模光纤(见第1章，2008年版的第1章)﹔
b)更改了基准试验方法，取消了轴向张力法作为基准试验方法的规定，基准试验方法待讨论(见第4章，2008年版的第3章)﹔
c)更改了断裂应力的公式A.2、中值断裂应力随恒定应力速率变化的公式A.7、截距公式A.8和断裂应力对应力速率的动态疲劳曲线图A.4(见附录A.5.3，2008年版的附录A.5.3) ;
d)更改了中值断裂应力随恒定压板速度变化的公式B.5、截距公式B.6和动态疲劳数据图B.3(见附录B.5.2，2008年版的附录B.5.2) ;
e)更改了线性回归公式C.1和截距公式C.2(见附录C.5.3，2008年版的附录C.5.3);
f)更改了两点弯曲静态疲劳装置示意图D.1(见附录D，2008年版的附录D)
g)更改了动态应力腐蚀敏感性参数 na的数值算法的公式(见附录F.2，2008年版的附录F.2);
h)更改了计算断裂应力的方法(见附录F.3，2008年版的附录F.3) ;
i)更改了断裂强度对“有效”断裂时间的系列试验结果图H.1和图H.2(见附录H，2008版的附录H)。
《光纤试验方法规范 第40部分：传输特性的测量方法和试验程序 衰减》
本文件规定了光纤的衰减特性的试验方法,确立了有关光纤衰减参数测量的统一试验程序和技术要求。本文件适用于对A类和B类光纤和光缆的衰减特性测量。
IEC对光纤衰减特性的标准做了更新，2001年以来，IEC 60793-1-40Edition 2.0在2019年3月进行了更新,主要新增了B6类单模光纤测量和A4类多模光纤校准的详细要求。为了确保国家标准的先进性，有必要对GB/T 15972.40——2008进行修订。
本文件代替GB/T 15972.40-2008《光纤试验方法规范第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序-衰减》。本文件与GB/T15972.40-2008相比，主要技术变化如下:
a)增加了光纤衰减均匀性的规定(见3.4和4.4);
b)增加了测量和试验的环境条件(见6);
c)增加了B6类光纤中滤除高阶模细节规定(见A.2.2.4);
d)更改了A1类多模光纤注入条件的适用光纤类型，不限于渐变折射率型(见附录A.2.3;见2008年版A.1.3);
e)增加了对A1类多模光纤衰减的测试长度细节规定(见A.2.3.1);
f)更改了A1类多模光纤光学注入规定(见A.2.3.2;见2008年版A.1.3.2g)增加了Al类多模光纤搅模器的示例(见A.2.3.3)；
h)更改了A2、A3、A4类多模光纤注入装置的适用光纤类型，不限于突变折射率型(见A.2.4;见2008年版A.1.4);
i)增加了方法A中A4类多模光纤的校准规定(见A.2.5.2);
j)增加了方法B的校准规定(见B.2.3);
k)更改了方法C测试的细节规定，将注的内容改为正文(见C.2.6，见2008年版C.1.5);
l)更改了方法C试样处理细节规定，将注的内容改为正文(见C.3，见2008年版C.2);
m)增加了方法C的校准规定(见C.4.6);
n)增加了A1类短段多模光纤测量结果示例(见附录E)。
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