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《半值层仪校准规范》征求意见

2020/8/13 8:58:30    26207
来源:仪表网
摘要:半值层仪由探测器、减弱过滤和测量单元(或静电计)三大部分组成。其原理是通过测量穿过不同厚度的附加过滤片射线强度,计算初始辐射强度减弱一半时的滤片厚度,得到半值层的值。
  【仪表网 仪表标准】由中国测试技术研究院等单位起草的《(20~150)kV X射线束半值层仪校准规》已完成征求意见稿。现发给专家审查,敬请各位对征求意见稿提出您的建议和意见,并反馈至中国测试技术研究院许诗朦的邮箱472118564@qq.com,以便在规范审定会上审定。
 
  目前X射线在医学、工业、农业等方面得到了广泛的应用,尤其是在医学方面,比如X射线透视与摄影,X射线放射治疗等。常用的医用诊断X射线装置有普通的X射线摄影装置、X射线透视装置、数字式医用诊断X射线装置、数字减影血管造影X射线装置、医用CT机、乳腺诊断X射线装置、牙科X射线诊断装置等。医用诊断X光机已普及到我国农村乡镇医院,医用CT机也普及到县地区级医院,数量巨大。每年利用医用诊断X射线设备完成各种检查的近亿人次。另外,在我国从事生产与医用诊断X射线装置相关的医疗器械企业近百家,进入我国市场的国外同类企业数十家。
 
  因此辐射质的准确控制显的尤为重要,半值层仪用来对X射线束辐射质进行测量,进而对X射线辐射输出进行准确控制,保障X射线应用的安全。《半值层仪校准规范》可以实现(20~150)kV X射线半值层仪的校准,从而保障射线束产品质量、运行安全。
 
  医用诊断辐射源、牙科机、CRDR中几乎都对半值层测量提出了要求,目前许多多功能测试仪已具备测试半值层的功能并且被广泛使用,但目前在国内半值层参数还没有办法进行溯源,《半值层仪校准规范》的编写可以解决半值层仪器的溯源问题。
 
  《半值层仪校准规范》的编写将统一国内半值层仪量值传递,使其量值可以溯源至国家基准,保证其量值的统一、准确可靠,并与上的校准方法保持一致,进而保证医用X射线设备的产品质量,保障人民群众的生命健康和安全。
 
  《(20~150)kV X射线束半值层仪校准规》按照JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》的要求编写,编制的主要依据为IEC 61267-2005《医用诊断X射线设备–测量特性使用的辐射条件》\IEC 61674-2012 《医用电气设备-X射线诊断影像中使用的电离室和/或半导体探测器剂量计》\GB/T 19629-2005《医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计》和IAEA TRS 457 放射诊断剂量学:规定(Dosimetry in Diagnostic Radiology:An International Code of Practice)。为制定。适用于放射诊断(20~150)kV X射线的半值层厚度检测仪的校准,其半值层范围(0.1~14)mmAl。
 
  半值层仪各项目的计量特性建议不超过以下的规定
 
  半值层仪由探测器、减弱过滤和测量单元(或静电计)三大部分组成。其原理是通过测量穿过不同厚度的附加过滤片射线强度,计算初始辐射强度减弱一半时的滤片厚度,得到半值层的值。(详情详见附件)
 

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