《二硫化钼片层材料厚度测量方法》征求意见稿发布
- 2020/1/22 8:58:17 23033
- 来源：仪表网
【仪表网 仪表标准】为了应对我国科研和生产部门的需要，规范纳米材料可以分为纳米颗粒、纳米纤维和纳米片，针对纳米颗粒的尺寸测量，我们已经建立了详细的基于原子力显微术的测量方法。指导日常的测试工作，国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会等单位共同起草了《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》。
《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》标准规定了利用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量二硫化钼(Molybdenumdisulfide，简称MoS2)片层材料厚度的测量方法。适用于分散或生长在固体衬底表面的MoS2二维纳米材料厚度的测量。
《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。文件对于本文件的应用是的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其新版本(包括所有的修)适用于本文件。有以下几个文件引用。
GB/T 27760 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 33714 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术
ISO 18115-2 表面化学分析 术语 第2部分 扫描探针显微术术语
此外，AFM采用带有针尖的微悬臂扫描样品表面，微悬臂的一端连接的是由AFM控制器驱动的压电扫描器，另一端的针尖感应样品表面与针尖之间相互作用力，如图1所示，当针尖与样品表面很接近时，两者之间的相互作用力(吸引力或排斥力)使微悬臂弯曲变形。激光从微悬臂的背面反射进入位置敏感的光电检测器，微悬臂的形变可以通过反射光束的偏移量来测量,针尖的位移跟微悬臂的形变量呈线性关系。
通过标准可知，试验所需的仪器有原子力显微镜、等离子清洗机、超声清洗仪、移液枪、压缩气体等，标准不仅对样品制备的衬底处理、二硫化钼片层材料的转移以及待测样品的存放步骤进行了详细介绍，还对测量步骤的设备校准、环境条件、开机准备、探针的选择、成像模式的选择、扫描范围的设定、图像的获取与处理等步骤进行了论述。具体详情详见附件
全部评论