吉天助力第二届原子光谱应用与技术学术研讨会_吉天仪器

吉天助力第二届原子光谱应用与技术学术研讨会

2019/12/19 10:10:16 17817: 来源：聚光科技

摘要：由中国仪器仪表学会分析仪器分会、分析测试百科网联合主办，海南大学分析测试中心协办的第二届原子光谱应用与技术学术研讨会在海南大学交流中心如期举办。

　　【仪表网仪表企业】由仪表仪器仪表学会分析仪器分会、分析测试百科网联合主办，海南大学分析测试中心协办的第二届原子光谱应用与技术学术研讨会在海南大学交流中心如期举办。会议特别邀请到国内原子光谱专家、学者做主题报告，分析讨论原子光谱研究、应用及相关技术的创新与发展。

　　作为一直致力于原子光谱研发的国内企业，北京吉天仪器有限公司(以下简称：吉天仪器)受邀参加了此次研讨会，并由吉天仪器高级产品经理带来了主题为“原子荧光新技术及应用”的精彩报告。屈经理重点介绍了吉天直接进样汞镉同测的新技术，并且分享了成熟的应用方案，解决了传统商用前处理技术易受环境污染、被测元素损失、实验安全隐患大等难题。

　　会议期间，吉天仪器特别展示了刚刚斩获BCEIA金奖和中国仪器仪表学会科学技术奖二等奖两项大奖的Kylin原子荧光光度计，以及新款形态分析仪SA-50，吸引了广大学员和专家的长久驻足，就技术问题进行了详细咨询。