《混合集成电路测试系统校准规范》征求意见稿发布
- 2019/9/26 9:24:43 22545
- 来源：仪表网
【仪表网 仪表标准】9月20日，全国无线电计量技术委员会发布了《混合集成电路测试系统校准规范》征求意见稿，为了使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，特向全国有关单位征求意见和建议。意见反馈邮箱：mtc5@nim.ac.cn
集成电路测试系统是指在集成电路生产、使用中用于产品电性能参数测试的设备。一般为数字集成电路测试系统、模拟集成电路测试系统和混合集成电路测试系统，混合集成电路测试系统测试对象是混合信号集成电路器件。
混合集成电路测试系统的典型结构由数字部分和模拟部分及电源等辅助部分构成。数字部分主要负责混合电路中的数字部分的信号的测试，包括驱动/比较单元、图形发生器、时钟发生器、精密测量单元。模拟部分主要负责模拟部分信号的建立与输出信号的获取。
本规范依据JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》编写，相关术语及测量不确定度评定遵循JJF 1001-2011《通用计量术语及定义》和JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》两个文件。
本校准规范规定了DC~1GHz工作频段射频集成电路测试系统的校准项目和校准方法，附录中给出了各校准参数的测量结果的测量不确定度评定示例。
本规范的编写引用的文件有GB/T 17574 《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》和GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》。
依据JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范在组织架构上包括引言、范围、引用文件、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达、复校时间间隔和附录等内容。
本规范为发布。本规范适用于DC~1GHz频段混合集成电路测试系统的校准。(更多详情请见附件)
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