资讯中心

工程材料谱仪顾问委员会第二次会议召开

2019/5/5 8:35:13    12953
来源:中国科学院
摘要:4月24日-25日,中国散裂中子源和广东(东莞)材料基因高等理工研究院(CEAM)共同召开了工程材料谱仪顾问委员会第二次会议。
  【仪表网 仪表会议】4月24日-25日,中国散裂中子源(CSNS)和广东(东莞)材料基因高等理工研究院(CEAM)在中国科学院高能物理研究所东莞分部共同召开了工程材料谱仪(Engineering Materials Diffractometer)顾问委员会第二次会议。
 

 
  会议由广东(东莞)材料基因高等理工研究院张书彦院长主持,来自日本散裂中子源(J-PARC)、英国散裂中子源(ISIS)以及国内外高校和科研院所的7位顾问专家出席。
 
  高能所东莞分部副主任王芳卫研究员致欢迎词并介绍了CSNS装置的概况、调试运行情况、用户培养及未来规划。张书彦介绍了工程材料谱仪的总体规划,各专业组介绍了谱仪的中子光路设计、斩波器设计、探测器设计、土建工程设计、屏蔽计算结果及数据处理系统。
 
  经充分讨论,委员会一致认为谱仪总体设计优良,能充分优化性能参数,主要部件及内部空间设计合理,谱仪综合性能参数满足材料加工制造、能源与航空等相关领域的研究需求。
 
  后,与会专家提出了一些建设性意见和建议,对下一步工程材料谱仪的深度优化和工程建设具有重要的参考意义。
 
  (原文标题:工程材料谱仪顾问委员会第二次会议召开)

全部评论

上一篇:ICP-MS分析技术在半导体行业中的应用专题研讨会举办

下一篇:全国环境化学计量技术委员会2019年年会召开

相关新闻
热门视频
相关产品
写评论...