“高精度光栅测长仪验证评价方案”论证会召开
- 2019/1/11 8:44:58 18727
- 来源：北京市计量检测科学研究院
【仪表仪表网 仪表会议】2019年1月4日上午，北京市计量院机械所召开“高精度光栅测长仪验证评价方案”论证会，会议由长度室孟令川主任主持，科技部吴晓昱主任及课题参加人员出席了本次会议。会议邀请了来自北京长城计量测试技术研究所、北京交通大学、北京理工大学和北京工业大学等单位的五位验评专家。
科技部吴主任向与会人员介绍了北京市科委“国产质监领域计量科学仪器验证评价与推广项目”的平台背景和成长情况，课题组汇报了“高精度光栅测长仪验评”课题的立项及新进展情况。
课题组详细汇报了“高精度光栅测长仪”验证评价方案。与会五位专家对验评方案进行了深入的讨论和论证，一致认为课题组汇报的验评方案科学合理，技术路线清晰，实施方案可行，完全符合预期考核要求，建议课题组根据专家意见进一步完善验评方案，尽快实施该课题。
本次验评方案论证会的召开，肯定了课题的技术方案，保障了“高精度光栅测长仪”验评课题的顺利实施，为进一步提高国产质监计量科学仪器“高精度光栅测长仪”的质量水平和应用推广奠定了坚实的技术基础。
(原文标题：院机械所召开“高精度光栅测长仪验证评价方案”论证会)
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