资讯中心

　　【仪表仪表网 仪表会议】2018年10月19日，由中国计量大学发起并联合中国计量科学研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州大学、中国科学院宁波材料技术与工程研究所共同举办的光电子与测量会议(ICOM2018)正式开幕。中国科学院上海分院院长、中国科学院院士王建宇研究员担任大会主席。副校长俞晓平教授出席大会开幕式。
 

 

图片来自中国高校之窗
 

　　本次大会力求立足视野、突出光电前沿、彰显计量特色、深化交流、助推学科进步与产业发展，吸引了来自意大利、荷兰、加拿大、日本、新加坡、南非、加纳、中国等多个国家和地区的90余位代表参会。参会人员中，有中科院院士2人，学会会士(fellow)4人，长江学者、国家杰青、其他人才21人。会议的研究方向涵盖了当今光电子与测量领域研究的新点和热点。两天的会议中，与会代表紧紧围绕先进光电测量、计量、标准的主题，就光电子领域前沿技术与先进测量方法、产业发展方向等展开了交流，介绍光电子测量领域的新发明应用与发展方向，探讨了国内外先进光电子器件的科学、技术、材料、工艺等方面的问题。
 

　　中国科学院院士、长春光机所研究员王立军，意大利国家科学院纳米结构材料研究所总所所长Michele Muccini教授，长江学者、OSA会士、浙江大学教授刘旭，纳米材料学家、浙江大学教授彭笑刚，国家杰青、长江学者、清华大学教授孙洪波，国家杰青、英国学会会士、中国科学院半导体所研究员谭平恒，上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室主任张建华教授等在会上分别作了精彩的大会报告。王立军院士在“激光在检测领域中的应用”的大会报告中介绍了激光技术在物理量检测、探索化学反应、医学成像检测和信息感知等领域的重要作用和应用，他将激光测量看作“改变世界的光”，他坦言道：“激光测量学推动人类走向光子时代、光制造时代、光信息时代，推动了人类认识世界和改造世界的进程。”刘旭教授在“空间频率频移在超分辨成像中的深层影响”的大会报告中介绍了其团队的FED(荧光辐射微分显微术)技术，提升了现有系统的成像分辨率，实现了片上的大视场、远场、无标记的超分辨显微成像，分辨率较传统显微方法提升了5倍，且其视场比以往报道的无标记型远场超分辨显微方法扩展了2个数量级。北京大学肖立新教授、上海交通大学陈俊超教授、西安交通大学吴朝新教授、中山大学王凯教授、吉林大学冯晶教授、厦门大学孙志军教授、苏州大学胡剑凌教授、苏州大学李孝峰教授、太原理工大学王华教授、南京工业大学安众福教授、天津理工大学印寿根教授、荷兰莱顿大学Grégory F. Schneider教授、新加坡南洋理工大学材料工程学院Zheng Liu教授、中科院福建物质结构研究所郑庆东研究员，宁波材料技术与工程研究所葛子义研究员，中国计量大学董新永研究员、彭应全教授、赵春柳教授等，分别围绕相关主题作了思维新颖、内容丰富的分会报告和邀请报告。
 

　　会议于10月20日下午闭幕。会议为来自多个国家和地区的光电测量行业专家学者提供了学术交流平台，为行业及产业发展提供了新思路。本次会议是中国计量大学庆祝建校40周年的重要活动之一，与会专家在参会的同时感受到了中国计量大学校庆的喜庆氛围，加深了对中国计量大学及相关学科的了解。会议的举办，对扩大学校及学科的国内外影响力具有长远意义。
 

　　(原文标题：首届光电子与测量会议在中国计量大学举行)