日立分析仪器发布新款高分辨率XRF镀层测厚仪
- 2018/7/6 13:24:44 21189
- 来源：日立分析仪器
【仪表仪表网 仪表新品】日立分析仪器公司(日立分析仪器)，是日立高新技术公司旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。近日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。
日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。
这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器(SDD)或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。
对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和铜。这扩大了可以用于分析的元素范围，包括磷 — 对于化学镀镍分析非常关键，并且可以更地测量较薄镀层，例如符合IPC-4552A的纳米范围的金。
日立分析仪器产品业务发展经理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而闻名。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性，以测量大量零件的复杂镀层。我们保留了高度直观的SmartLink软件，因此任何操作员(无论经验水平如何)都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品，包括FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列，40多年来在镀层测量领域一直深受信赖，我们很高兴能够提供这些改进成果。”
(原文标题：日立分析仪器发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪X-Strata920)
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