国产复合型X射线荧光光谱仪亮相会展引关注
- 2017/3/29 8:27:07 14182
- 来源：地调局实验测试中心
【仪表网 仪表新品】2017年3月5~9日，第68届匹兹堡实验室仪器展览会在美国芝加哥展览中心举行。地调局实验测试中心、北京钢研纳克检测技术有限公司、地调局南京地调中心等共同自主研发的 CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪惊艳亮相，受到众多专家学者的关注。
(图片来源网络)
该仪器集波谱、能谱、微X射线分析于一身，集成了波谱和能谱的优点，扩展了X射线荧光光谱仪的分析领域，搭建了从厘米级总体分析到毫米级分布分析的桥梁。
许多参加展会的客商，对CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪表示了极大的兴趣，并现场进行了详细咨询。通过这次参展，不仅了解到了仪器行业的新行情，开拓了视野，为今后的仪器研发工作带来了新的理念，更有助于该项成果的市场化。
(原文标题：自主研发波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪亮相展览)
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