仪表上游集成电路16项标准发布
- 2017/1/16 16:08:41 31208
- 来源：仪表网
1月13日，工信部发布集成电路领域《集成电路 存储器引出端排列》等4项国家标准和《IP核可测试性设计指南》等12项行业标准，并面向社会各界征求意见，截止日期到2017年2月14日。
| 公示标准汇总表 | ||||||||
| 序号 | 计划编号 | 项目名称 | 标准类型 | 制修订 | 代替标准号 | 采用标准 | 项目周期 （月） | 起草单位 |
| 1 | 20154231-T-339 | 集成电路 存储器引出端排列 | 国标 | 制定 | | IEC 61964-1999 | 2017 | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 2 | 20154239-T-339 | 半导体集成电路 DDR3测试方法 | 国标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院 |
| 3 | 20154240-T-339 | 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 | 国标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院 |
| 4 | 20154245-T-339 | 集成电路 焊柱阵列试验方法 | 国标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 5 | 2015-1789T-SJ | IP核可测性设计指南 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 哈尔滨工业大学、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学 |
| 6 | 2015-1790T-SJ | IP核质量信息描述方法 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 哈尔滨工业大学、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学 |
| 7 | 2015-1804T-SJ | 通用NAND型快闪存储器接口 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 上海复旦微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、深圳海思半导体有限公司 |
| 8 | 2015-1791T-SJ | 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、深圳国微电子股份有限公司 |
| 9 | 2015-1803T-SJ | 数字微电子封装的串扰特性 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 10 | 2015-1808T-SJ | 微电子封装的数字信号传输特性 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 11 | 2015-1809T-SJ | 微电子器件封装的地和电源阻抗 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 12 | 2015-1807T-SJ | 微波电路型号命名方法 | 行标 | 修订 | SJ 2406-1983 | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 13 | 2015-1794T-SJ | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳国微电子股份有限公司、上海复旦微电子有限公司、成都华微电子有限公司 |
| 14 | 2015-1792T-SJ | 半导体集成电路 电压比较器测试方法 | 行标 | 修订 | SJ/T 10805-2000 | | 2017 | 中国电子技术标准化研究院、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 15 | 2015-1798T-SJ | 硅通孔几何测量术语 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国电子科技集团公司第55研究所、长电科技有限公司、天水华天科技有限公司 |
| 16 | 2015-1797T-SJ | 功率电机驱动器测试方法 | 行标 | 制定 | | | 2017 | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
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