《X射线珠层测厚仪校准规范》征求意见稿发布
- 2016/12/29 13:14:22 26804
- 来源：仪表网
X射线珠层测厚仪是采用X射线透过被观测物品，通过增强屏和CCD图像传感器，在计算机屏幕上实时显示出被测物品的轮廓，配合图像测量处理软件，即可测量物品的尺寸或位置关系。它是由国家珍珠及珍珠制品质量监督检验中心和厦门善思科技技术公司合作自主研发的仪器设备，具有四项国家发明。
在该领域的测量校准规范并不多，国家标准GB/T 18781-2008《珍珠分级》测量珍珠珠层厚度的检测方法有3种，其中X射线法是目前用于检测珍珠珠层厚度常用的方法，而X射线珠层测厚仪是该方法的主要测量仪器。2006年该仪器研制出来后没有统一的地方校准规范，只有使用单位自己制定的自校规范，因此需要制订《X 射线珠层测厚仪校准规范》的广西地方标准，有利于珠层厚度检测更加准确。
察觉到行业需求后，2013年10月正式立项开始着手拟定规范起草工作计划，在查阅了有关资料并进行市场调研及实验后，直至2015年8月完成初稿。今年6月，广西质量技术评价认证中心在南宁组织有关专家广西地方校准规范《X 射线珠层测厚仪》送审稿进行了审定，并就校准规范送审稿 的规范性、适应性、可操作性等进行了认真、充分的讨论，终同意上报广西壮族自治区质量技术监督局批准。
在制定过程中，该规范以JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》为基础，参考JJG480-2007《X 射线测厚仪检定规程》和JJF1306-2011《X 射线荧光镀层测厚仪校准规范》修改完善，终形成了报批稿。
此外，遵从JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》的要求，此规范架构上包括封面、扉页、目录、引言、范围、引用文件、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达、复校时间间隔、附录几个部分。更多详细情况请见附件。
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