光电所新项目研究获突破 高准度测量引关注
- 2016/9/14 10:41:58 13409
- 来源:仪表网
由光学镀膜完成的大口径反射光学元件光谱(反射率)非均匀性作为重要的技术参数,对于其测量准确度要求极高。只有满足一定的的技术要求才能运用在系统中,以达到保障反射光学的质量,满足系统正常运行的目标。
据悉,此项测试技术由光电所薄膜光学测试研究团队提供测试技术平台,主要技术突破在于实现了大口径反射元件反射率分布的二维高分辨成像测量。同时,也可提供反射率测量的时间指数衰减拟合曲线和镜面反射率扫描的三维测试结果。而该测试装置也为大口径光学元件反射率评估和优化提供了重要技术支持,助力我国光学元件产业快速发展。
此研究项目得到了中科院的项目资助,研究成果发布引发了产业广泛关注。
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