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光学膜厚智能测控仪研发任务成功完成

2011/8/19 9:29:33    4372

来源：中国科学院

摘要：

　　导读：近日，成都中科唯实仪器有限责任公司技术研发部门通过自主设计，完成光学膜厚智能测控仪研发任务。

　　
　　传统的光学镀膜采用极值法膜厚监控方式，正确判定极值点是镀膜操作人员的重要操作技术，它决定着每一炉镀膜的质量。镀膜过程中镀膜操作人员必须全神贯注地注视着膜厚监控仪显示膜厚相对值的变化，以正确判定这一层的厚度是否达到。由于一个光学元件的镀膜层数往往有数层到数十层之多，所以对一个镀膜人员来说劳动强度相当大，稍不留意就会出废品。长久以来，科技人员一直在寻找各种方法克服这种现象。
　　
　　近日，成都中科唯实仪器有限责任公司技术研发部门通过自主设计，完成光学膜厚智能测控仪研发任务。
　　
　　唯实公司研制出“智能光控膜厚监控仪”能正确、自动给出极值点，不仅使镀膜操作人员的劳动强度大为降低，还会使镀膜的质量大为提高。把这种监控仪推向市场替代原来的控制仪，将产生很大的经济效益和社会效益，适用于广大中低档镀膜用户，市场容量大，效益可观。

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